A redução contínua dos desvios sistemáticos na tomografia computadorizada (TC) – dos chamados artefatos – é uma das prioridades de desenvolvimento do software de medição WinWerth®. Já em 2005, os métodos de correção foram integrados à reconstrução do volume digital da peça de trabalho no primeiro equipamento do mundo com TC de raios X desenvolvido especialmente para a tecnologia de medição por coordenadas, o TomoScope® 200.
Para ampliar a gama de aplicações dos equipamentos, não basta medir peças de plástico com rapidez e precisão. Montagens complexas com materiais altamente absorventes, como metais ou cerâmicas e, por exemplo, combinações de plástico e cobre, também precisam ser analisadas e medidas com alta precisão. No entanto, a tomografia dessas peças de trabalho multimateriais resulta em artefatos significativamente mais fortes, por exemplo, devido ao endurecimento do feixe, o que prejudica significativamente a precisão da medição e, em alguns casos, até impossibilita a inspeção.
Precisão e eficiência andam de mãos dadas
Para enfrentar esses desafios, diferentes métodos de correção foram integrados ao site WinWerth®. A correção empírica de artefatos (EAC), testada e comprovada há décadas, permite a correção de artefatos desconhecidos com base em uma única tomografia, mas até o momento tem se limitado ao uso em peças de um único material. Como alternativa, a TC multiespectral (MSP-CT) fornece resultados muito bons usando duas medições com diferentes espectros de raios X, mesmo para peças de vários materiais, mas às custas do tempo de medição. Com o novo MEAK (multi-material EAK), as áreas geradoras de artefatos (por exemplo, contatos metálicos em conectores) são detectadas automaticamente após uma medição e os artefatos gerados são determinados e removidos. O resultado é um volume corrigido com artefatos significativamente reduzidos, o que geralmente permite medições e análises confiáveis.
