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Chromatic Focus Point Sensor CFP

Hochgenauer chromatischer Punktsensor

Vorteile

Das chromatische Messprinzip sorgt für geringe Messabweichungen und eine weitgehende Unabhängigkeit von den Oberflächeneigenschaften. Beim Scanning werden viele Messpunkte in kurzer Zeit erfasst. Daraus ergibt sich ein breites Einsatzspektrum auch bei hohen Anforderungen an Messunsicherheit und Messzeit. Eng tolerierte Masse sowie Form und Rauheit können gemessen werden.

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Messung empfindlicher und elastischer Werkstücke
Grosse Messbereiche des Sensors erlauben ein schnelles Scanning ohne Nachführen der Geräteachsen zur Werkstückoberfläche und damit noch geringere Messzeiten
Messung von spiegelnden oder transparenten Oberflächen möglich
Auch Schichtdicken transparenter Materialien sind messbar (Option)

Technische Daten

Optisch-axial (chromatische Aberration)

0,3 mm bis 3 mm

Zulässige Antastabweichung bis 0,25 µm

Aus der Auswertebox a) wird das Licht einer breitbandigen Lichtquelle b) über einen Faserkoppler c), eine Lichtleitfaser d) und eine Abbildungsoptik e) auf das Werkstück (Position 1), 2) oder 3)) projiziert. Die Intensität des reflektierten Lichts ist für die Farbe am höchsten, die dem Abstand vom Werkstück entspricht f). Dies wird über ein Spektrometer g) ausgewertet.

Geräte und Zubehör

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Weitere Ausstattung zum Chromatic Focus Point Sensor CFP

Gerät

ScopeCheck® S

Telefon	+49 641 7938-0
Telefax	+49 641 7938-719
E-Mail	mail@werth.de

Chromatic Focus Point Sensor CFP

Hochgenauer chromatischer Punktsensor

Präzises Scanning von Oberflächen

Weitere Vorteile

Sensorprinzip

Messbereich

Genauigkeit

Funktionsweise

Weitere Ausstattung zum Chromatic Focus Point Sensor CFP

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Umfassender Service rund um das Koordinaten­messgerät

Werkstückbeispiele Chromatic Focus Point Sensor CFP

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