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关于多传感器技术和计算机断层扫描的功能和使用的背景知识

基于几十年来在光学、测头、计算机断层扫描和多传感器技术方面的经验积累，支持用户成功使用他们的三坐标测量机，按照国际标准进行灵活、安全和可追溯的三维测量。

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通往正确的测量方法的途径– 多传感器技术和计算机断层扫描的优势比较

文件大小: 2.99 MB
输出: Kunststoffe 10/2020
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通往正确的测量方法的途径– 多传感器技术和计算机断层扫描的优势比较

完全测量外部和内部– 坐标测量中的X射线断层扫描技术

<p>基本知识 第三部分 在坐标测量中，主要使用触觉和光学传感器以及X射线计算机断层扫描。X射线断层扫描设备在其基础和部件上有所不同，如X射线源、旋转轴和探测器，以及它们的软件，因此它们的特点也有所不同，对这些特点的基本了解有助于最佳使用。空间延伸的物体，包括其内部结构，可以完全以计量学方式记录。</p>
文件大小: 2.49 MB
输出: QZ 2020/02
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完全测量外部和内部– 坐标测量中的X射线断层扫描技术

灵活且与表面无关的– 坐标测量中的触觉传感器

<p>基本知识 第二部分 在坐标测量中，主要使用触觉和光学传感器以及X射线计算机断层扫描。触觉传感器的功能原理和结构由机械学、光学、电子学和软件组成，因此它们的属性也不尽相同，对它们的基本了解有助于优化使用。触觉测量在很大程度上与被测物体的表面特性无关。</p>
文件大小: 2.2 MB
输出: QZ 2019/12
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灵活且与表面无关的– 坐标测量中的触觉传感器

非接触和快速– 坐标计量学中的光学传感器技术

<p>基本知识 第一部分 在坐标测量中，主要使用触觉和光学传感器以及X射线计算机断层扫描。光学传感器的功能原理和结构由机械学、光学、电子学和软件组成，因此它们的特性也不尽相同，对它们的基本了解有助于优化使用。敏感的工件和有小特征的工件也可以在不接触的情况下进行测量。</p>
文件大小: 3.01 MB
输出: QZ 2019/10
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非接触和快速– 坐标计量学中的光学传感器技术

在极限测量– 特殊的测量方法扩大了计算机断层扫描的应用范围

<p>对测量技术的要求根据测量任务的不同而不同。除了高精度或短的测量时间外，计算机断层扫描传感器还必须能够测量难以辐射的物体或多材料工件。有不同的测量方法可用于此类应用。</p>
文件大小: 3.04 MB
输出: Kunststoffe 2019/10
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在极限测量– 特殊的测量方法扩大了计算机断层扫描的应用范围

在多传感器技术和X射线断层扫描之间的选择– 绕过或穿过中间地带

<p>三坐标测量机的传感器在不同领域有其优势。传感器选择的决定性因素是必要的测量不确定性、测量速度和工件特性。最佳传感器的选择是在三个示范性测量任务的基础上描述的。</p>
文件大小: 7.8 MB
输出: QE 2019/01
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在多传感器技术和X射线断层扫描之间的选择– 绕过或穿过中间地带

多传感器技术或X射线断层扫描– 测量任务决定了坐标测量机的选择。

<p>为了在质量保证中有效利用坐标测量技术，正确的精度等级和尺寸的测量机必须配备适当的传感器或多传感器技术。将非接触式与触觉传感器结合起来往往是有意义的。然而，传感器对解决测量任务的适用性取决于各种标准。</p>
文件大小: 1.82 MB
输出: QZ 2018/04
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多传感器技术或X射线断层扫描– 测量任务决定了坐标测量机的选择。

全方位的人才– 计算机断层扫描是工业4.0的驱动力

<p>许多公司仍然在非网络化的单独步骤中开发、制造和测试其产品。通过使用带有计算机断层扫描的坐标测量机，这些过程可以得到简化和加速。其结果是一个完整的、数字化的工件图像。</p>
文件大小: 1.71 MB
输出: QZ 2017/05
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全方位的人才– 计算机断层扫描是工业4.0的驱动力

像飞行中的测量– 带计算机断层扫描的坐标测量技术的进步

<p>使用X射线计算机断层扫描技术，可对工件进行高速和准确的完全测量。然而，这种方法在生产过程中的测量往往太慢。现在，一种新型的设备结合了不同设备类别的优势。</p>
文件大小: 5.34 MB
输出: QE 2017/03
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像飞行中的测量– 带计算机断层扫描的坐标测量技术的进步

各个方面的微型工具和拓扑结构

<p>由硬质合金或金刚石制成的微型铣刀和特殊工具有时只有十分之几毫米的大小，其切割边缘具有完美的锋利度，半径为几微米。测量这种几何形状是非接触和触觉坐标测量技术的最大挑战之一。</p>
文件大小: 1.19 MB
输出: Mikroproduktion 2017/02
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各个方面的微型工具和拓扑结构

具有高精度和高速度– 地形扫描，采用新的色度聚焦线传感器

<p>与点式传感器相比，多维距离传感器能够实现更高的点密度或测量速度。然而，这往往是以增加测量不确定性为代价实现的。新的色度聚焦线传感器CFL同时满足了测量技术的两个主要挑战。</p>
文件大小: 4.23 MB
输出: QE 2017/01
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具有高精度和高速度– 地形扫描，采用新的色度聚焦线传感器

宠辱不惊– 实际使用中的不同传感器

<p>现代坐标测量技术为几乎所有的测量任务提供了最佳的传感器。同一工件上的不同测量任务通常可以用多传感器坐标测量机最有效地解决。</p>
文件大小: 3.75 MB
输出: QE 2016/04
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宠辱不惊– 实际使用中的不同传感器

用纤维探头测量微观几何形状

<p>工业中不断推进的小型化导致对测量技术的要求越来越高。新的MIKROTASTER概念，如纤维探针，甚至可以精确测量小而复杂的特征和容易变形的工件。</p>
文件大小: 4.65 MB
输出: Mikroproduktion 2016/02
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用纤维探头测量微观几何形状

新的应用– 用计算机断层扫描技术测量粗糙度

<p>在合适的硬件组件和软件程序的帮助下，工件越来越小的细节可以在带有X射线断层扫描传感器的坐标测量机上得到解决。这开辟了许多新的应用可能性。对粗糙度标准的初步调查显示，目前的设备原则上也适合用于粗糙度测量技术。</p>
文件大小: 1.85 MB
输出: QZ 2016/01
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新的应用– 用计算机断层扫描技术测量粗糙度

用于微观特征的多传感器技术– 燃料喷射喷嘴的测量技术

<p>十多年来，大陆集团一直在全球范围内使用Werth Messtechnik GmbH,Giessen 的设备来测量燃油喷射喷嘴。一开始使用的图像处理传感器技术很快被获得专利的Werth纤维探头补充，后来又被计算机断层扫描补充。这使得尺寸、形状和粗糙度的测量高度精确，并保证测量结果的可追溯性。</p>
文件大小: 1.81 MB
输出: QZ 2015/09
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用于微观特征的多传感器技术– 燃料喷射喷嘴的测量技术

完整无损的– 计算机断层扫描技术在坐标测量中的应用十年了

<p>由于有可能对任何结构的部件进行完整和无损的测量，很难想象没有计算机断层扫描的质量保证。在坐标测量中引入这项技术后的十年里，Werth开发了多种设备和功能，以满足日益增多的测量任务的需要。</p>
文件大小: 456.23 kB
输出: QE 2015/01
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完整无损的– 计算机断层扫描技术在坐标测量中的应用十年了

灵活而准确的测量– 计算机断层扫描中的伪影校正

<p>用计算机断层扫描进行测量时，由于原理的原因会出现各种伪影。有各种方法可用于纠正所产生的测量偏差。根据各自的测量任务，可以选择最合适的方法。</p>
文件大小: 1.94 MB
输出: QZ 2014/11
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灵活而准确的测量– 计算机断层扫描中的伪影校正

一键测量– X射线断层扫描传感器技术在坐标测量机中确立了自己的地位

<p>计量学家的一个夙愿，即 "一键测量"，已经成为现实。X射线断层摄影机在几分钟内提供断层扫描工件的数字拷贝--体素体积。数十万个测量点是自动生成的。它们完全而精确地体现了工件的几何形状。</p>
文件大小: 1.32 MB
输出: Inspect 2013/11
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一键测量– X射线断层扫描传感器技术在坐标测量机中确立了自己的地位

对技术的信心必须成熟– X射线断层扫描，坐标测量技术的未来？

<p>近年来，X射线断层扫描已进入许多公司的测量室。突然间，工件上的数据采集似乎变得非常简单而不复杂，计量技术人员 "无需编程即可测量 "的夙愿正在变成现实。但是，带X射线断层扫描传感器的坐标测量机到底是什么意思，其技术水平如何？</p>
文件大小: 1.74 MB
输出: QZ 2013/05
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对技术的信心必须成熟– X射线断层扫描，坐标测量技术的未来？

为什么微型工具必须如此精确

<p>在微铣加工中，即使是最小的偏差也会扰乱加工过程并推高成本。因此，对强调的和昂贵的工具提出了极端的要求。质量监测是通过高精度的光学或光触媒测量设备进行的。</p>
文件大小: 5.99 MB
输出: Mikroproduktion 2011/02
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为什么微型工具必须如此精确

坐标测量中的多点测量– 现代传感器可以完整地获取工件的几何形状。

<p>现代三坐标测量机可以配备各种传感器。除了触觉传感器外，光学传感器也越来越受欢迎。在这里，可以在很短的测量时间内获得材料表面的大量测量点。这允许对形状、尺寸和位置进行全面评估。通过计算机断层扫描对工件进行完整的记录，甚至提供了更广泛的可能性。</p>
文件大小: 326.81 kB
输出: QE 2010/05
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坐标测量中的多点测量– 现代传感器可以完整地获取工件的几何形状。

输送带上的轮廓– 用光学传感器进行地形测量

<p>现代三坐标测量机可以配备各种传感器。除了传统的触觉传感器外，光学传感器也变得越来越受欢迎。在这里，可以在很短的测量时间内获得材料表面的大量测量点。这允许对形状、尺寸和位置进行全面评估。</p>
文件大小: 1.72 MB
输出: Laser + Photonik 2010/04
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输送带上的轮廓– 用光学传感器进行地形测量

共焦传感器丰富了多传感器技术

<p>除了现有的传感器系列外，Werth Messtechnik ，现在首次实现了用非接触式共焦传感器在三坐标测量机上进行高精度测量。即使是二维的微观结构也可以用这种传感器进行三维测量。</p>
文件大小: 1.02 MB
输出: Mikroproduktion 2009/03
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共焦传感器丰富了多传感器技术

用低温影响进行测量– 温度稳定的坐标测量机是否会让你忘记温度？

<p>生产中使用的三坐标测量机通常具有 "温度稳定性"。其允许的长度测量偏差在很大的温度范围内都有规定。随着与参考温度（20 °C）偏差的增加，必须特别注意被测物的热膨胀。如果不考虑这一点，就会出现明显的测量误差。该指南允许对与温度有关的测量不确定性进行估计。</p>
文件大小: 706.38 kB
输出: QZ 2008/01
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用低温影响进行测量– 温度稳定的坐标测量机是否会让你忘记温度？

只需测量整个部分

<p>带有噪声传感器的协调测量设备 一份首件检验报告包括几百个测试测量值是很常见的。在原型设计的热门阶段，有时需要一个星期的测量时间来进行首次出刀测试。在X射线技术的帮助下，它可以更快、更有效地完成。</p>
文件大小: 896.16 kB
输出: Plastverarbeiter 2006/07
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只需测量整个部分

一年四季都有可靠的测量结果– 带有温度补偿的多传感器坐标测量机

<p>触觉和多传感器坐标测量机不再只用于测试实验室，而是越来越直接用于生产。这意味着测量的温度可能大大偏离参考温度20 °C。由此产生的温差可能非常大。这种温差造成的测量误差往往被低估，仍然没有被考虑到，从而伪造了测量结果。</p>
文件大小: 210.24 kB
输出: QE 2006/04
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一年四季都有可靠的测量结果– 带有温度补偿的多传感器坐标测量机

精确测量微型工具– 来自Werth Messtechnik GmbH的实际使用的工具测量技术

<p>在微加工工具的生产中，公差在百分之一毫米范围内是很常见的。使用传统的测量技术，低于50微米的芯片空间、10微米的倒角宽度以及这种小倒角上的间隙角度都无法测量。这就是特殊的微型传感器，如纤维探头或Werth的Focault激光器发挥作用的地方。</p>
文件大小: 291.56 kB
输出: fertigung 2006/03
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精确测量微型工具– 来自Werth Messtechnik GmbH的实际使用的工具测量技术

计算机断层扫描扩展了多传感器技术

<p>计算机断层扫描技术与多传感器坐标测量技术的结合，使得复杂的工件和微型零件都能得到快速和准确的测量。首次应用经验表明，这些系统可以开发出相当大的合理化潜力。快速的初始采样也为产品开发节省了大量时间。</p>
文件大小: 1.38 MB
输出: Mikroproduktion 2006/02
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计算机断层扫描扩展了多传感器技术

使用多传感器坐标测量机使测量变得简单

<p>现代多传感器坐标测量机具有广泛的应用，其测量任务的复杂性各不相同。机器操作人员的资格范围很广，从没有受过什么培训的员工，只是偶尔测量一些尺寸，到利用这种机器技术的所有可能性解决非常困难的测量任务的专家。这导致了不同的工作方式，这些工作方式得到了设备操作的软件结构的最佳支持。</p>
文件大小: 156.34 kB
输出: QE 2006/02
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使用多传感器坐标测量机使测量变得简单

三坐标测量机上的多传感器技术– 光学和触觉传感器一起测量

<p>灵活的坐标测量技术是当今的主流。用于不同应用的各种不同的传感器可以理想地相互补充，以解决测量任务。一般来说，传感器分为非接触（光学）和接触（触觉）。在选择传感器技术时，必须考虑到待测物体的特性，如其触摸灵敏度、待测特征的大小和可及性、所需测量点的数量和特征的公差。</p>
文件大小: 2.55 MB
输出: QE 2005/11
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三坐标测量机上的多传感器技术– 光学和触觉传感器一起测量

在一次运行中完成检查计划– 采用多传感器技术的三坐标测量机

<p>三坐标测量机在生产控制和初步取样方面有广泛的应用。采用多传感器技术的机器的优点是可以灵活地适应任何测量问题。现代系统在一次测量运行中处理完整的检查计划。</p>
文件大小: 652.1 kB
输出: Plastverarbeiter 2005/06
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在一次运行中完成检查计划– 采用多传感器技术的三坐标测量机

用于高精度测量的 "Werth "工作（Werth Messtechnik GmbH的公司画像）

<p>"如果你不能测量它，你就不能生产它"，这是作者在一次计量学讲座中的核心句子之一，他的这些句子让人记忆深刻。这句话在今天当然仍然有效，即使当时的计量可能性与今天的测量设备之间存在着天壤之别。有足够的理由去了解最著名的测量技术供应商之一的最新技术状况。去Werth Messtechnik GmbH（Giessen ）的第二个原因是意识到，特别是在工具和模具制造的环境中，关键字初始采样，一个经济的过程链在很大程度上取决于经济的测量技术。高度准确，但又灵活和经济– ，这并不一定是一个矛盾的问题。</p>
文件大小: 4.38 MB
输出: Special Tooling 2005/03
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用于高精度测量的 "Werth "工作（Werth Messtechnik GmbH的公司画像）

"我们通过创新实现增长？"(采访Ralf Christoph博士，Werth Messtechnik GmbH的所有者和总经理)

<p>Werth Messtechnik GmbH，来自Giessen ，被认证为多传感器坐标测量技术市场的技术领导者，甚至被许多竞争者认可。有一些迹象表明，在可预见的未来，这一领域的市场领导地位也可能实现。在过去的十年中，营业额增加了600%，目前的订单量增加了30%，而且自从Dr.-Ing. habil.拉尔夫-克里斯托夫作为公司的所有者和总经理一直在掌舵，出口份额已从9%（1992年）上升到目前的40%。此外，还有大量的创新动力，最近 "TomoScope "的首演就强调了这一点。Werth使在材料测试领域众所周知的X射线断层扫描技术适合于工业计量。我们有机会与拉尔夫-克里斯托夫博士交谈。</p>
文件大小: 832.4 kB
输出: Special Tooling 2005/03
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"我们通过创新实现增长？"(采访Ralf Christoph博士，Werth Messtechnik GmbH的所有者和总经理)

使用玻璃纤维的精度– 测量微观结构和部件

<p>用于宏观组件的传感器和坐标测量机在保证微观组件和结构的质量方面显示出不足之处。虽然测量问题可以通过在多传感器坐标测量机中对各种传感器进行特定的应用组合来部分克服，但即使使用这种测量机，也很难测量到光学上难以进入的位置的微观几何形状。一种结合了光学和触觉测量方法的新型纤维探头填补了这一空白。</p>
文件大小: 352.43 kB
输出: Mikroproduktion 2005/01
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使用玻璃纤维的精度– 测量微观结构和部件

用多传感器坐标测量技术取代多位置测量装置和量具

<p>许多制造过程是在量具和多点测量系统的帮助下进行监测的。这些系统能够可靠地解决复杂的测量任务，但缺点是制造、维护和相应的校准成本高。</p>
文件大小: 2.66 MB
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用多传感器坐标测量技术取代多位置测量装置和量具

具有最大放大倍数的测量微型工具

<p>没有高精度的测量技术，就不可能制造出精确的微型工具。但微型工具的小尺寸和敏感性要求采用特殊的方法进行测量和监测。只能使用非接触式方法，而1000倍以上的高倍率光学仪器是必不可少的。搬运通常由机器人抓取系统完成，没有任何人工干预。测量设备的夹持系统对于微型工具也必须特别精确，因为形状误差无法完全补偿。</p>
文件大小: 1.93 MB
输出: Werkstatt + Betrieb 2004/10
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具有最大放大倍数的测量微型工具

双重标准？ – 测量不确定度和制造工艺

<p>测量不确定度会影响质量保证中的释放公差，以及你自己的生产和分包商的实际可用的公差。对于图纸公差的解释，不能有双重标准。有两种方法可以摆脱这种情况。</p>
文件大小: 1.74 MB
输出: QZ 2003/06
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双重标准？ – 测量不确定度和制造工艺

电火花加工系统与坐标测量机的结合提高了产品的质量

<p>对工件轮廓的快速和高度精确的采集使计量学和生产工程的工作方法都很有效。它能够快速复制主件，快速对产品进行特定工件的质量控制，并通过相应的在线耦合，直接提高产品质量。通过在AGIE电火花切割系统和WERTH三坐标测量机之间建立适当的接口，这里创造了理想的条件。</p>
文件大小: 284.56 kB
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电火花加工系统与坐标测量机的结合提高了产品的质量

采用多传感器技术的三坐标测量机– 在生产控制和测量室中灵活地进行尺寸测量

<p>灵活性与高精度相结合，使得三坐标测量机被广泛用于生产控制和测量室的初始取样中的尺寸检测。采用多传感器技术的三坐标测量机具有特殊的优势，即用户在选择传感器时可以针对各自的测量问题进行定位。</p>
文件大小: 0.94 MB
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采用多传感器技术的三坐标测量机– 在生产控制和测量室中灵活地进行尺寸测量
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