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关于多传感器技术和计算机断层扫描的功能和使用的背景知识

基于几十年来在光学、测头、计算机断层扫描和多传感器技术方面的经验积累，支持用户成功使用他们的三坐标测量机，按照国际标准进行灵活、安全和可追溯的三维测量。

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找到正确测量方法的途径– 比较多传感器技术和计算机断层扫描的优势

文件大小: 2.99 MB
输出: Kunststoffe 10/2020
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找到正确测量方法的途径– 比较多传感器技术和计算机断层扫描的优势

完整的外部和内部测量– X 射线断层扫描在坐标测量中的应用

<p>基础知识 第 3 部分 在坐标测量中，主要使用触觉和光学传感器以及 X 射线层析成像技术。X 射线断层扫描设备的基础和组件（如 X 射线源、旋转轴和探测器）以及软件各不相同，因此其特性也各不相同，对这些特性的基本了解有助于优化其使用。利用测量技术可以全面捕捉空间扩展物体，包括其内部结构。</p>
文件大小: 2.49 MB
输出: QZ 2020/02
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完整的外部和内部测量– X 射线断层扫描在坐标测量中的应用

灵活且与表面无关– 坐标测量中的触觉传感器技术

<p>基础知识 第 2 部分 坐标测量技术中主要使用触觉和光学传感器以及 X 射线计算机断层扫描技术。触觉传感器的功能原理和结构由机械、光学、电子和软件组成，因此其特性各不相同，对这些特性的基本了解有助于优化其使用。触觉测量在很大程度上与被测物体的表面特性无关。</p>
文件大小: 2.2 MB
输出: QZ 2019/12
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灵活且与表面无关– 坐标测量中的触觉传感器技术

坐标测量中的非接触式和快速– 光学传感器

<p>基础知识 第 1 部分 在坐标测量技术中，主要使用触觉和光学传感器以及 X 射线计算机断层扫描。光学传感器的功能原理和结构由机械、光学、电子和软件组成，因此其特性也各不相同，对这些特性的基本了解有助于优化其使用。即使是敏感工件和具有微小特征的工件，也可以在不接触的情况下进行测量。</p>
文件大小: 3.01 MB
输出: QZ 2019/10
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坐标测量中的非接触式和快速– 光学传感器

极限测量– 特殊测量方法扩大了计算机断层扫描的应用范围

<p>测量任务不同，对测量技术的要求也不同。除了高精度或短测量时间外，计算机断层扫描传感器还需要能够测量难以扫描的物体或多材料工件。针对此类应用，有不同的测量方法可供选择。</p>
文件大小: 3.04 MB
输出: Kunststoffe 2019/10
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极限测量– 特殊测量方法扩大了计算机断层扫描的应用范围

在多传感器技术和 X 射线断层扫描技术之间做出选择– 围绕或穿过中心

<p>用于三坐标测量机的传感器在不同领域各有优势。所需的测量不确定度、测量速度和工件特性是选择传感器的决定性因素。下面通过三个测量任务实例来介绍如何选择最佳传感器。</p>
文件大小: 7.8 MB
输出: QE 2019/01
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在多传感器技术和 X 射线断层扫描技术之间做出选择– 围绕或穿过中心

多传感器技术或 X 射线断层扫描– 测量任务决定三坐标测量机的选择

<p>为了在质量保证中有效利用三坐标测量技术，必须在精度等级和尺寸正确的测量机上配备适当的传感器或多传感器技术。通常情况下，将非接触式传感器与触觉传感器结合使用是合理的。不过，传感器是否适合完成测量任务取决于多种标准。</p>
文件大小: 1.82 MB
输出: QZ 2018/04
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多传感器技术或 X 射线断层扫描– 测量任务决定三坐标测量机的选择

全方位人才– 计算机断层扫描是工业 4.0 的驱动力

<p>许多公司仍在以非网络化的单个步骤进行产品开发、制造和测试。通过使用带有计算机断层扫描技术的坐标测量机，可以简化和加快这些流程。其结果是工件的完整数字图像。</p>
文件大小: 1.71 MB
输出: QZ 2017/05
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全方位人才– 计算机断层扫描是工业 4.0 的驱动力

犹如在飞行中测量– 利用计算机断层扫描技术进行坐标测量的技术正在崛起

<p>X 射线计算机断层扫描技术可以高速、准确地全面捕捉工件。然而，到目前为止，这一过程对于生产过程中的测量来说往往过于缓慢。现在，一种新型设备结合了不同设备类别的优点。</p>
文件大小: 5.34 MB
输出: QE 2017/03
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犹如在飞行中测量– 利用计算机断层扫描技术进行坐标测量的技术正在崛起

微型刀具和各方面的拓扑结构

<p>由硬质合金或金刚石制成的微型铣刀和特殊工具有时只有十分之几毫米大小，其切削刃具有完美的锋利度，半径仅为几微米。测量这种几何形状是非接触和触觉坐标测量技术面临的最大挑战之一。</p>
文件大小: 1.19 MB
输出: Mikroproduktion 2017/02
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微型刀具和各方面的拓扑结构

高精度、高速度– 地形扫描仪配备新型色谱聚焦线传感器

<p>与点传感器相比，多维距离传感器可实现更高的点密度或测量速度。然而，这往往是以增加测量不确定性为代价的。新型 CFL 色谱聚焦线传感器可同时应对测量技术的两大挑战。</p>
文件大小: 4.23 MB
输出: QE 2017/01
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高精度、高速度– 地形扫描仪配备新型色谱聚焦线传感器

无从选择– 不同传感器的实际应用

<p>现代坐标测量技术可为各种测量任务提供最佳传感器。对于同一工件的不同测量任务，通常可以通过多传感器三坐标测量机最有效地解决。</p>
文件大小: 3.75 MB
输出: QE 2016/04
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无从选择– 不同传感器的实际应用

用纤维探针测量微几何形状

<p>工业微型化的发展对测量技术提出了更高的要求。MIKROTASTER 的新理念，如纤维探针，即使对小而复杂的特征和易变形的工件也能进行精确测量。</p>
文件大小: 4.65 MB
输出: Mikroproduktion 2016/02
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用纤维探针测量微几何形状

新应用– 使用计算机断层扫描技术测量粗糙度

<p>借助合适的硬件组件和软件流程，带有 X 射线断层扫描传感器的三坐标测量机可以测量工件更小的细节。这开辟了许多新的应用可能性。对粗糙度标准的初步测试表明，目前的设备原则上也适用于粗糙度测量技术。</p>
文件大小: 1.85 MB
输出: QZ 2016/01
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新应用– 使用计算机断层扫描技术测量粗糙度

用于微特征的多传感器技术– 用于喷油器的测量技术

<p>十多年来，大陆集团一直使用Werth Messtechnik GmbH,Giessen 的设备在全球范围内测量燃油喷嘴。最初使用的是图像处理传感器技术，很快又增加了获得专利的 Werth 纤维探头，后来又增加了计算机断层扫描技术。这使得尺寸、形状和粗糙度的测量高度精确，并保证了测量结果的可追溯性。</p>
文件大小: 1.81 MB
输出: QZ 2015/09
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用于微特征的多传感器技术– 用于喷油器的测量技术

完整且无损的– 计算机断层扫描技术在坐标测量领域的十年应用

<p>由于可以对任何结构的部件进行全面、无损的测量，因此很难想象没有计算机断层扫描技术就无法保证质量。自计算机断层扫描技术引入坐标测量领域以来的十年间，Werth 已开发出多种设备和功能，可满足日益繁多的测量任务。</p>
文件大小: 456.23 kB
输出: QE 2015/01
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完整且无损的– 计算机断层扫描技术在坐标测量领域的十年应用

灵活准确的测量– 计算机断层扫描中的伪影校正

<p>使用计算机断层扫描进行测量时，会根据不同的原理产生各种伪影。有多种方法可以纠正由此产生的测量偏差。可根据测量任务选择最合适的方法。</p>
文件大小: 1.94 MB
输出: QZ 2014/11
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灵活准确的测量– 计算机断层扫描中的伪影校正

按键测量– X 射线断层扫描传感器技术在三坐标测量机中的应用

<p>"一键测量 "是计量专家的夙愿，如今已成为现实。X 射线断层扫描设备可在几分钟内提供断层扫描工件的数字副本（体素量）。数十万个测量点自动生成。它们完整而精确地反映了工件的几何形状。</p>
文件大小: 1.32 MB
输出: Inspect 2013/11
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按键测量– X 射线断层扫描传感器技术在三坐标测量机中的应用

技术必须成熟– X 射线断层扫描，坐标测量技术的未来？

<p>近年来，X 射线断层扫描技术已进入许多公司的测量室。工件上的数据采集突然变得简单明了，计量人员 "测量无需编程 "的夙愿正在变成现实。但究竟什么是带 X 射线断层扫描传感器的三坐标测量机，目前的技术水平如何？</p>
文件大小: 1.74 MB
输出: QZ 2013/05
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技术必须成熟– X 射线断层扫描，坐标测量技术的未来？

微型工具为何必须如此精确

<p>在微铣加工中，即使是最小的偏差也会破坏加工过程并增加成本。因此，对极其精确和昂贵的工具提出了极高的要求。质量监控是通过高精度光学或光触测量设备来实现的。</p>
文件大小: 5.99 MB
输出: Mikroproduktion 2011/02
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微型工具为何必须如此精确

三坐标测量技术中的多点测量– 现代传感器可全面采集工件几何尺寸

<p>现代坐标测量机可配备各种传感器。除触觉传感器外，光学传感器也越来越受欢迎。在这里，可以在很短的测量时间内获得材料表面上的大量测量点。这样就可以对形状、尺寸和位置进行全面评估。利用计算机断层扫描技术对工件进行完整记录，可以提供更深远的可能性。</p>
文件大小: 326.81 kB
输出: QE 2010/05
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三坐标测量技术中的多点测量– 现代传感器可全面采集工件几何尺寸

传送带上的轮廓– 使用光学传感器测量地形

<p>现代坐标测量机可配备各种传感器。除了传统的触觉传感器外，光学传感器也越来越受欢迎。在这里，可以在很短的测量时间内获得材料表面上的大量测量点。这样就可以对形状、尺寸和位置进行全面评估。</p>
文件大小: 1.72 MB
输出: Laser + Photonik 2010/04
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传送带上的轮廓– 使用光学传感器测量地形

共焦传感器丰富了多传感器技术

<p>除了现有的传感器系列外，Werth Messtechnik 还首次实现了使用非接触式共焦传感器在三坐标测量机上进行高精度测量。即使是平面微结构，也可以进行三维捕捉。</p>
文件大小: 1.02 MB
输出: Mikroproduktion 2009/03
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共焦传感器丰富了多传感器技术

测量受低温影响– 温度稳定的三坐标测量机会让你忘记温度吗？

<p>生产中使用的坐标测量机通常具有 "温度稳定性"。其允许的长度测量偏差规定在很宽的温度范围内。随着与参考温度（20 °C）的偏差增大，必须特别注意被测物体的热膨胀。如果不考虑这一点，就会出现明显的测量误差。本指南可估算与温度相关的测量不确定度。</p>
文件大小: 706.38 kB
输出: QZ 2008/01
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测量受低温影响– 温度稳定的三坐标测量机会让你忘记温度吗？

只需测量整个部件

<p>将测量设备与 RÖNTGENSENSOR 相结合 初始样品测试报告通常由几百个测试测量值组成。在样件生产的高温阶段，有时需要一周的测量时间才能完成首次出模测试。X 射线技术速度更快，效率更高。</p>
文件大小: 896.16 kB
输出: Plastverarbeiter 2006/07
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只需测量整个部件

一年四季都能获得可靠的测量结果– 带有温度补偿功能的多传感器三坐标测量机

<p>触摸式和多传感器三坐标测量机不再仅用于测试实验室，而是越来越多地直接用于生产。这意味着测量温度可能与 20 °C 的参考温度有很大偏差。这种温差造成的测量误差往往被低估，未被考虑，从而使测量结果失真。</p>
文件大小: 210.24 kB
输出: QE 2006/04
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一年四季都能获得可靠的测量结果– 带有温度补偿功能的多传感器三坐标测量机

微型刀具的精确测量– Werth Messtechnik GmbH 提供的实用刀具测量技术

<p>在微加工工具的制造过程中，百分之一毫米的公差是司空见惯的。传统的测量技术无法测量小于 50 微米的切屑空间、10 微米的倒角宽度以及小倒角上的间隙角。这就是特殊微传感器（如 Werth 的光纤扫描仪或 Focault 激光器）发挥作用的地方。</p>
文件大小: 291.56 kB
输出: fertigung 2006/03
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微型刀具的精确测量– Werth Messtechnik GmbH 提供的实用刀具测量技术

计算机断层扫描扩展了多传感器技术

<p>将计算机断层扫描技术与多传感器坐标测量技术相结合，可以快速准确地测量复杂工件和微型零件。初步应用经验表明，这些系统具有相当大的合理化潜力。快速的初始取样也为产品开发节省了大量时间。</p>
文件大小: 1.38 MB
输出: Mikroproduktion 2006/02
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计算机断层扫描扩展了多传感器技术

使用多传感器三坐标测量机轻松进行测量

<p>现代多传感器三坐标测量机应用广泛，测量任务复杂程度各不相同。从偶尔测量几个尺寸的训练有素的员工，到使用该机器技术的所有可用选项来解决非常困难的测量任务的专家，机器操作员的资质各不相同。这就产生了不同的工作方法，而设备操作软件的结构为这些方法提供了最佳支持。</p>
文件大小: 156.34 kB
输出: QE 2006/02
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使用多传感器三坐标测量机轻松进行测量

三坐标测量机上的多传感器技术– 光学和触觉传感器共同测量

<p>灵活的坐标测量技术是当今的主流。用于不同应用领域的各种不同传感器可以理想地相互补充，以解决测量任务。传感器通常分为非接触式（光学）和接触式（触觉）传感器。在选择传感器技术时，必须考虑到测量对象的特性，如接触灵敏度、待测特征的尺寸和可接近性、所需测量点的数量以及特征的公差。</p>
文件大小: 2.55 MB
输出: QE 2005/11
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三坐标测量机上的多传感器技术– 光学和触觉传感器共同测量

一次运行即可完成完整的检测计划– 采用多传感器技术的三坐标测量机

<p>坐标测量机广泛应用于生产控制和初始取样。采用多传感器技术的设备具有可灵活适应任何测量问题的优势。现代系统可在一次测量过程中处理完整的检测计划。</p>
文件大小: 652.1 kB
输出: Plastverarbeiter 2005/06
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一次运行即可完成完整的检测计划– 采用多传感器技术的三坐标测量机

用于高精度测量的 "Werth "工作（Werth Messtechnik GmbH 的公司介绍）

<p>"如果不能测量，就不能生产"，这是作者在一次测量技术讲座上的一句名言。尽管当时的计量技术与今天的测量设备有着天壤之别，但这句话在今天依然有效。因此，我们有足够的理由访问最知名的测量技术提供商之一，了解最新的技术水平。访问Werth Messtechnik GmbH（Giessen ）的第二个原因是，我们意识到，尤其是在工具和模具制造领域，经济高效的工艺链在很大程度上取决于经济高效的测量技术。高精度、灵活和经济的– 不一定是一对矛盾。</p>
文件大小: 4.38 MB
输出: Special Tooling 2005/03
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用于高精度测量的 "Werth "工作（Werth Messtechnik GmbH 的公司介绍）

"我们通过创新实现增长？(采访Werth Messtechnik GmbH 所有者兼总经理 Ralf Christoph 博士）

<p>Werth Messtechnik GmbH（Giessen ）是多传感器坐标测量技术市场上公认的技术领先者，甚至连一些竞争对手也不例外。一些迹象表明，在可预见的未来，该公司也可能成为这一领域的市场领导者：在过去的十年中，公司的营业额增长了 600%，目前的订单量增长了 30%，而且自拉尔夫-克里斯托夫博士（Dr.-Ing. habil.拉尔夫-克里斯托夫博士（Dr. -Ing. habil Christoph）担任公司所有人兼总经理以来，公司的出口份额已从 1992 年的 9% 上升到目前的 40%。此外，公司还具有强烈的创新愿望，最近推出的 "TomoScope "就突出了这一点。Werth 已将 X 射线断层扫描技术这一材料测试领域的熟悉课题应用于工业计量领域。我们有幸采访了拉尔夫-克里斯托夫博士。</p>
文件大小: 832.4 kB
输出: Special Tooling 2005/03
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"我们通过创新实现增长？(采访Werth Messtechnik GmbH 所有者兼总经理 Ralf Christoph 博士）

使用玻璃纤维实现精度– 测量微观结构和部件

<p>用于宏观部件的传感器和坐标测量机在保证微观部件和结构的质量方面存在缺陷。虽然在多传感器三坐标测量机中根据具体应用组合不同的传感器可以部分解决测量问题，但即使使用此类测量设备，也很难检测到光学上难以触及的微观几何形状。一种结合了光学和触觉测量方法的新型纤维探针弥补了这一缺陷。</p>
文件大小: 352.43 kB
输出: Mikroproduktion 2005/01
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使用玻璃纤维实现精度– 测量微观结构和部件

用多传感器坐标测量技术取代多点测量设备和量具

<p>许多生产过程都需要借助量具和多点测量设备进行监控。这些系统能够可靠地完成复杂的测量任务，但缺点是生产、维护和相应的校准成本较高。</p>
文件大小: 2.66 MB
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用多传感器坐标测量技术取代多点测量设备和量具

测量微小工具的最大放大倍数

<p>没有高精度的测量技术，就不可能生产出精密的微型工具。然而，由于微型工具尺寸小、灵敏度高，因此需要采用特殊的方法进行测量和监控。只能使用非接触式方法，1000 倍或更高倍率的高倍率光学仪器必不可少。通常使用机器人抓取系统进行搬运，无需人工干预。对于微型模具来说，测量设备的夹持系统也必须极其精确，因为形状误差无法完全补偿。</p>
文件大小: 1.93 MB
输出: Werkstatt + Betrieb 2004/10
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测量微小工具的最大放大倍数

两种不同的测量方法？ – 测量不确定性和制造工艺

<p>测量不确定度会影响质量保证中的放行公差以及内部生产和供应商实际使用的公差。对图纸公差的解释不能有双重标准。解决这种情况有两种方法。</p>
文件大小: 1.74 MB
输出: QZ 2003/06
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两种不同的测量方法？ – 测量不确定性和制造工艺

侵蚀系统与三坐标测量机的结合提高了产品质量

<p>快速、高精度地记录工件轮廓可为计量学和生产工程学提供有效的工作方法。通过相应的在线链接，可以快速复制主零件，快速进行以工件为导向的产品质量控制，并直接提高产品质量。通过在 AGIE EDM 系统和 WERTH 坐标测量机之间建立适当的接口，创造了理想的条件。</p>
文件大小: 284.56 kB
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侵蚀系统与三坐标测量机的结合提高了产品质量

采用多传感器技术的三坐标测量机– 在生产控制和测量室中进行尺寸测量的灵活性

<p>灵活性和高精度使得三坐标测量机广泛应用于生产控制和测量室初始取样的尺寸检测。采用多传感器技术的三坐标测量机的特别优势在于，用户可以根据各自的测量问题来选择传感器。</p>
文件大小: 0.94 MB
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采用多传感器技术的三坐标测量机– 在生产控制和测量室中进行尺寸测量的灵活性
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