以 "多传感器坐标测量 "为题，关于这项技术的第一份集中报告于2003年出版（"技术图书馆 "系列的第248卷）。2011年，第231卷 "工业计量中的X射线断层扫描 "出版，其中首次介绍了X射线计算机断层扫描的技术，重点是工业计量。以紧凑和易懂的形式解释了X射线计算机断层扫描的坐标测量机的功能原理、可能的应用、规格和测量不确定性以及其他重要的特殊功能。
在新的第352卷 "多传感器坐标测量：用光学、扫描仪和X射线断层扫描进行尺寸测量 "中，多传感器技术的重要性被考虑到了，并扩大了范围。除了功能和应用外，还包括探测力和温度的影响等。
这些专业书籍是基于Werth Messtechnik GmbH公司在光学计量和多传感器技术方面的专家知识，这些知识是在公司70多年的历史中建立起来的，同时也是在用X射线传感器技术进行坐标计量领域15年以上的开拓性工作中获得的经验。
