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书籍

为计量用户的日常工作提供最新技术信息的专业书籍

以 "多传感器坐标测量 "为题,关于这项技术的第一份集中报告于2003年出版("技术图书馆 "系列的第248卷)。2011年,第231卷 "工业计量中的X射线断层扫描 "出版,其中首次介绍了X射线计算机断层扫描的技术,重点是工业计量。以紧凑和易懂的形式解释了X射线计算机断层扫描的坐标测量机的功能原理、可能的应用、规格和测量不确定性以及其他重要的特殊功能。
在新的第352卷 "多传感器坐标测量:用光学、扫描仪和X射线断层扫描进行尺寸测量 "中,多传感器技术的重要性被考虑到了,并扩大了范围。除了功能和应用外,还包括探测力和温度的影响等。
这些专业书籍是基于Werth Messtechnik GmbH公司在光学计量和多传感器技术方面的专家知识,这些知识是在公司70多年的历史中建立起来的,同时也是在用X射线传感器技术进行坐标计量领域15年以上的开拓性工作中获得的经验。

书籍

多传感器坐标测量技术

<p>以 "多传感器坐标测量" 为题,关于这项技术的第一个集中报告于2003年发表(第248卷)。2006年,对内容进行了修订,增加了X射线断层扫描的主题。2011年,第231卷出版,专门涉及X射线断层扫描的坐标计量学。这就是用已经介绍过的标题编写新卷352的原因。在这里,传感器技术的重要性被考虑到了,而且范围扩大。这在功能和应用方面有详细介绍。但其他重要的主题,如探测力和温度的影响也被包括在内。</p>
著作人: Süddeutscher Verlag onpact GmbH
多传感器坐标测量技术

工业计量学中的X射线断层扫描

<p>来自 "技术图书馆 "系列的技术书籍 "X射线断层扫描在工业计量中的应用 "是对几年前出版的 "多传感器坐标计量学 "一书的补充。这是第一次以工业计量学为重点介绍X射线断层扫描技术。以紧凑和易懂的形式解释了X射线断层扫描三坐标测量机的功能原理、可能的应用、规格和测量不确定性以及其他重要的特殊功能。这方面的基础是Werth Messtechnik GmbH的专家们在非接触式测量技术方面的专业知识,这些知识是在公司60多年的历史中建立起来的,同时也是在用X射线传感器进行坐标测量技术领域10年的开拓性工作中获得的经验。</p> <p>本书特别适合为来自制造或计量领域的感兴趣的专家提供了解这一技术的最重要的基础知识。它被推荐作为所有责任领域包括检查生产零件的几何形状的人的基本工作。</p>
著作人: SZ Scala GmbH
工业计量学中的X射线断层扫描
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