以 "多传感器坐标测量 "为题，关于这项技术的第一份集中报告于2003年出版（"技术图书馆 "系列的第248卷）。2011年，第231卷 "工业计量中的X射线断层扫描 "出版，其中首次介绍了X射线计算机断层扫描的技术，重点是工业计量。X射线计算机断层扫描技术的功能原理、可能的应用、规格和测量不确定性以及其他重要的坐标测量机的特殊功能都以紧凑和易懂的形式进行了解释。
在新的第352卷 "多传感器坐标测量：用光学、扫描仪和X射线断层扫描进行尺寸测量 "中，多传感器技术的重要性被考虑到了，并扩大了范围。除了功能和应用外，还包括探测力和温度的影响等。
参考书的基础是Werth Messtechnik GmbH公司在光学计量和多传感器技术方面的专家知识，这些知识是在公司70多年的历史中建立起来的，以及在用X射线传感器技术进行坐标计量领域超过15年的开创性工作中获得的经验。
