2003 年，"多传感器坐标测量学 "一书首次集中报道了这项技术（"Die Bibliothek der Technik "丛书第 248 卷）。第 231 卷 "工业计量中的 X 射线断层扫描 "于 2011 年出版，其中首次介绍了以工业计量为重点的 X 射线计算机断层扫描技术。该书以简洁易懂的形式介绍了 X 射线计算机断层扫描技术的功能原理、可能的应用、规格和测量不确定度以及使用 X 射线计算机断层扫描技术的坐标测量机的其他重要特性。
新的第 352 卷 "多传感器坐标测量：利用光学、探头和 X 射线断层扫描进行尺寸测量 "考虑到了多传感器技术的重要性，并扩大了范围。除了功能和应用外，还包括探测力和温度影响等内容。
这些专业书籍基于Werth Messtechnik GmbH 光学测量和多传感器技术专家 70 多年的专业经验，以及 15 年来在使用 X 射线传感器进行坐标测量领域的开创性工作所积累的经验。
