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光学
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触摸式
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计算机断层扫描
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触摸式

通过与探针元件的接触进行灵活的、基本不受表面影响的测量。

通过触觉测量技术，可以从四面八方触摸到工件。传统的测量和触觉光学探针和微探针具有不同的探针系统和元件，可用于孔、圆柱形表面和强倾斜平面的触觉三维测量。

扫描探头SP25M
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测量探头 SP80
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Werth Fibre Probe® WFP 2D
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Werth Fibre Probe® WFP 3D
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Werth Contour Probe WCP
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触发式测头TP200
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