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Werth计算机断层扫描CT

完整和准确的测量

优势

以最高的分辨率快速进行三维完整的内部和外部测量。

由于强大的硬件和智能测量软件,带计算机断层扫描的三坐标测量机正在实现越来越高的精度和测量速度。这意味着,除了在实验室和测量室的应用外,工业计算机断层扫描现在也可用于伴随生产和统计过程控制(SPC)的快速三维测量。与其他传感器不同的是,完整的三维工件体积,包括凹槽和内部几何形状,总是可以通过一个按钮获得测量结果。

请接受设置下的 "功能性Cookies "以观看此视频。进一步的优势

进一步的优势

  • 所有设备的校准都符合标准,也有DAkkS 证书
  • 获得专利的亚伏羲工艺保证了高空间分辨率,从而降低了测量的不确定性。
  • 结构分辨率可以通过使用特殊的测量方法,如多ROI和光栅断层扫描来进一步提高。
  • 与图像采集平行的实时重建,使得在扫描过程结束后立即可以获得测量结果
  • 利用OnTheFly CT减少测量时间,可以在生产过程中进行高产量的测量
技术数据
技术数据

传感器原理

X射线断层摄影

测量范围

最大。工件尺寸D = 120 mm / L = 93 mm到D = 500 mm / L = 1010 mm(取决于工件的长宽比)。

准确度

允许的探测偏差达2,5 µm

它是如何工作的

由X射线管发出的辐射a)在检测器上产生工件的X射线图像b)。从在不同旋转位置拍摄的X射线图像中重建一个虚拟工件体积。

它是如何工作的
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