dozvědět se více

Nano Focus Probe NFP

Vysoce přesný konfokální senzor

Výhody

Pomocí sondy Nano Focus Probe lze zachytit povrch obrobku jako 3D mračno bodů a vyhodnotit rozměry, tvar, polohu a drsnost mikrostruktur. Potlačení rozptýleného světla umožňuje spolehlivé 3D měření topografie i reflexních povrchů s odchylkami měření v submikrometrovém rozsahu. Konfokální optický senzor poskytuje dobré výsledky i na strmých svazích s velkými úhly sklonu.

Chcete-li sledovat toto video, přijměte prosím soubory cookie s preferencemi. Další výhody

Různé objektivy umožňují přizpůsobit snímač danému úkolu
Snímač lze použít v celém měřicím objemu souřadnicového měřicího stroje a výsledky měření lze propojit ve stejném souřadnicovém systému
Celkový povrch lze vypočítat z několika sousedících dílčích mračen bodů téměř bez ztráty přesnosti

Technické údaje

Opticko-osová (konfokální mikroskopie)

Měření "v obraze" s integrovanou osou měření Z 250 µm

Přípustná odchylka měření do 0,15 µm

Pohybem měřicí hlavy s a) osvětlením, b) kamerou, c) dírkovou komorou a d) zobrazovací optikou vzhledem k obrobku e) se mění intenzita světelných bodů f), g) rozostřením. Překrývání rozostřených světelných bodů f) se zabrání velkými vzdálenostmi g).

Principy kompatibilních snímačů

Senzor

Werth Image Processing BV

Telefon	+49 641 7938-0
Fax	+49 641 7938-719
E-mail	mail@werth.de

Nano Focus Probe NFP

Vysoce přesná měření topografie nezávislá na odrazivosti

Další výhody

Princip senzoru

Rozsah měření

Přesnost

Jak to funguje

Další vybavení pro Nano Focus Probe NFP

Univerzální měřicí software pro souřadnicové měřicí stroje s optikou, sondami, počítačovou tomografií a multisenzory

Komplexní servis kolem souřadnicového měřicího stroje

Příklady obrobků Nano Focus Probe NFP