• Home
  • Zprávy
  • Rychlé měření tloušťky povlaku pomocí chromatického senzoru
dozvědět se více
Novinky o multisenorice

Rychlé měření tloušťky povlaku pomocí chromatického senzoru

Rychlé měření tloušťky povlaku pomocí chromatického senzoru

Tloušťky vrstev, kterými může pronikat světlo od viditelného po infračervený rozsah, lze měřit pomocí bodového snímače Chromatic Focus Point, čárového snímače Chromatic Focus Line a multisenzoru Chromatic Focus Zoom (patentovaná optická měřicí hlava s integrovaným zpracováním obrazu a snímačem chromatické vzdálenosti). Pomocí bodových snímačů CFP a CFZ lze měřit tloušťku povlaku specificky na různých místech obrobku nebo jako obrysové snímání s vysokou hustotou bodů na celém povrchu obrobku. Lineární skenování CFL přináší výhody v rychlosti měření ve srovnání s CFP a CFZ. Lze také vypočítat objem mezi rozhraními.
Díky interferometrickému principu je rozsah měřitelné tloušťky vrstvy v rozmezí 5 µm až 150 µm při použití viditelného světla a v rozmezí 30 µm až 10 500 µm při použití infračerveného záření. Při chromatickém měření lze kromě měření "v obraze" v měřicím rozsahu senzoru, tj. bez pohybu os přístroje, rozšířit měřicí rozsah měřením "v obraze" s odpovídajícím přenastavením os přístroje. Výsledky měření závisí na indexu lomu materiálů, takže je třeba jej znát velmi přesně. Další možností je přímá kalibrace tloušťky povlaku pomocí jiných metrologických metod, jako je Werth Fiber Probe® nebo počítačová tomografie.

Typickými aplikacemi pro měření tloušťky povlaku jsou tenké skleněné desky, fólie, vzduchové mezery, tloušťky nátěrů, ochranné povlaky na elektronických součástkách, destičky, membrány reproduktorů nebo balónkové katetry.

Rychlé měření tloušťky povlaku pomocí chromatického senzoru
Chromatické měření tloušťky vrstvy se dvěma maximy intenzity pro světlo odražené od horního (zeleného) a dolního (červeného) rozhraní
Kontakt
Chcete-li zobrazit obsah ve svém jazyce, vyberte jinou zemi nebo oblast.