Techniktag im Gießener Stammhaus

Mit Teilnehmern aus ganz Deutschland war der Gießener Techniktag am 04. Dezember wie immer sehr gut besucht. Die Anwenderberichte aus der Wirtschaft zu den Themen „Schnelle & effiziente BeWERTHung mittels CT“ und „Einsatz von Tomografie bei Faber-Castell“ wurden vorgetragen von Thomas Lender, toolcraft AG, bzw. Sebastian Spörl, Faber-Castell Cosmetics. Prof. Dr.-Ing. Teresa Werner von der Westsächsischen Hochschule Zwickau informierte über „Die neuen Allgemeintoleranzen nach ISO 22081 und DIN 2769“. Werth-Geschäftsführer Dr.-Ing. habil. Ralf Christoph begrüßte die Gäste und präsentierte aktuelle Trends der Koordinatenmesstechnik.

1987 rief Maria Werth, die Witwe des Firmengründers, die Dr.-Ing. Siegfried Werth Stiftung zur Förderung und Finanzierung wissenschaftlicher Arbeiten auf dem Gebiet der berührungslosen dimensionellen Messtechnik ins Leben. Dieses Jahr wurden auf Vorschlag von Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Czarske von der TU Dresden die Bachelorarbeit von Jie Zhang und die Dissertation von Dr. Julian Lich ausgezeichnet. Die Laudatio hielt Dr.-Ing. Robert Kuschmierz.

Besichtigungen und die Lösung individueller Messaufgaben durch die Werth-Spezialisten rundeten das Programm ab. Die Veranstaltungsreihe für nächstes Jahr mit Techniktagen in Deutschland, Österreich und der Schweiz ist bereits in Planung – mit unserem Newsletter halten wir Sie auf dem Laufenden.