mehr erfahren
Wafer - Runde Scheiben aus Silizium, die als Basis für ICs dienen

Wafer

Runde Scheiben aus Silizium, die als Basis für ICs dienen

Die wichtigste geometrische Eigenschaft ist die Ebenheit der gesamten Waferfläche.
Außerdem werden Wafer auf Einschlüsse und Oberflächenbeschädigungen geprüft. Die Anforderungen an die Messgeschwindigkeit sind für die Prozessüberwachung teilweise sehr hoch.

ScopeCheck® S

ScopeCheck® S

Das Multisensor-Koordinatenmessgerät für das Messen kleiner Werkstücke
ScopeCheck® S
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
ScopeCheck® FB

ScopeCheck® FB

Stabile Bauweise mit festem Portal für wirtschaftliche Fertigungskontrolle mit geringen Messunsicherheiten
ScopeCheck® FB
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Sensor
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
VideoCheck® S

VideoCheck® S

Das genaue Multisensor-Koordinatenmessgerät für die Messung kleinerer Werkstücke
VideoCheck® S
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Sensor
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Nano Focus Probe NFP
Sensor
Nano Focus Probe NFP
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
VideoCheck® FB

VideoCheck® FB

Das genaue Multisensor-Koordinatenmessgerät für die Messung großer Werkstücke, auf Wunsch mit mehreren Z-Achsen
VideoCheck® FB
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Sensor
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Nano Focus Probe NFP
Sensor
Nano Focus Probe NFP
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
VideoCheck® HA

VideoCheck® HA

Das hochgenaue Multisensor-Koordinatenmessgerät für die Messung großer Werkstücke, auf Wunsch mit mehreren Z-Achsen
VideoCheck® HA
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Sensor
Chromatic Focus Line Sensor CFL
Nano Focus Probe NFP
Sensor
Nano Focus Probe NFP
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
VideoCheck® UA

VideoCheck® UA

Das ultragenaue Multisensor-Koordinatenmessgerät
VideoCheck® UA
Werth Bildverarbeitung BV
Sensor
Werth Bildverarbeitung BV
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Sensor
Chromatic Focus Point Sensor CFP
Chromatic Focus Zoom CFZ
Sensor
Chromatic Focus Zoom CFZ
Nano Focus Probe NFP
Sensor
Nano Focus Probe NFP
Werth Zoom
Zubehör
Werth Zoom
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Zubehör
Telezentrische Objektive mit konstanter Vergrößerung
Wechslerrückzugsachse
Zubehör
Wechslerrückzugsachse
Kontakt