Día de la Tecnología en la sede de Giessen

Con participantes de toda Alemania, el Día de la Tecnología de Giessen, celebrado el 4 de diciembre, contó, como siempre, con una gran asistencia. escaneo tomográfico Thomas Lender, de Toolcraft AG, y Sebastian Spörl, de Faber-Castell Cosmetics, presentaron respectivamente los informes de usuarios de la industria sobre los temas "Mecanizado rápido y eficiente mediante TC" y "Uso de en Faber-Castell ". según ISO La Prof. Dra. Teresa Werner, de la Universidad de Ciencias Aplicadas de Zwickau, ofreció información sobre "Las nuevas tolerancias generales 22081 y DIN 2769". El Director General de Werth, Dr.-Ing. habil. metrología de coordenadas Ralf Christoph dio la bienvenida a los invitados y presentó las tendencias actuales en .

En el campo metrología En 1987, Maria Werth, viuda del fundador de la empresa, creó la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth para promover y financiar el trabajo científico en el campo de la medición dimensional sin contacto. Este año, a sugerencia del Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Czarske, de la Universidad Técnica de Dresde, se premió la tesis de licenciatura de Jie Zhang y la disertación del Dr. Julian Lich. El discurso laudatorio corrió a cargo del Dr. Robert Kuschmierz.

El programa se completó con visitas guiadas y la solución de tareas de medición individuales por parte de especialistas de Werth. – Ya se está planificando la serie de eventos para el próximo año con jornadas tecnológicas en Alemania, Austria y Suiza Les mantendremos informados con nuestro boletín de noticias.