Giessen Jornadas tecnológicas de Werth el 04 de diciembre de 2024

Estimados señores y señoras,

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sistemas multisensor tomografía computarizada
metrología Les invitamos cordialmente al Día de la Tecnología Werth que se celebrará el 4 de diciembre de 2024. Presentaciones exclusivas de la industria y la ciencia proporcionarán información sobre la tecnología de . Aproveche la oportunidad de realizar mediciones de prueba en sus piezas de trabajo, discutir requisitos especiales con nuestros expertos y optimizar su . También ofrecemos a los usuarios de nuestros dispositivos la oportunidad de familiarizarse con las nuevas opciones de hardware y software.

Programa:

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Werth Messtechnik

04.12.2024 Día de la Tecnología Werth En nuestra sede:GmbH Siemensstraße 19 35394 giessen

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09:00 09:15 Bienvenida del anfitrión Dr.-Ing. habil. Werth Messtechnik Ralf Christoph, Propietario y Director General de GmbH, giessen

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moldeo por inyección09:15 09:45 Mecanizado rápido y eficiente con CT Pacemaker para componentes de alta precisión Thomas Lender, Director de División, toolcraft AG, Spalt

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según ISO
09:45 10:15 Las nuevas tolerancias generales 22081 y DIN 2769 Prof. Dr.-Ing. Teresa Werner, Instituto de Tecnología de Producción, Universidad de Ciencias Aplicadas de Sajonia Occidental Zwickau

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10:15 10:45 Pausa café y debate

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metrología de coordenadas sistemas multisensor – dimensión
Werth Messtechnik 10:45 11:15 Werth con y CT stab para mediciones rápidas y precisas Andreas Flechtmann, Director de Ventas D/A/CH, GmbH, giessen

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– en el campo metrología
11:15 12:00 Promoción de jóvenes talentos mediante los Premios de la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth a la labor científica industrial Dr.-Ing. Bernd-Jochen Schniewind, Presidente del Patronato de la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth, giessen

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– escaneo tomográfico
garantía de calidad 12:00 12:30 Entrando en materia Utilización de en Faber-Castell Sebastian Spörl, CQG, A.W. Faber-Castell Cosmetics GmbH, Geroldsgrün

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12:30 13:30 Pausa para comer y debate

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13:30 17:00 Asesoramiento individual a nuestros usuarios sobre opciones de ampliación y actualización de los dispositivos existentes

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sistemas multisensor tomografía computarizada 13:30 17:00 Mediciones de prueba individuales con y en sus piezas de trabajo