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Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth

Promoción del trabajo científico en el campo de la metrología dimensional sin contacto

Tras el fallecimiento del Dr.-Ing. Siegfried Werth, su viuda, la Sra. C. H. Maria Werth, creó en 1987 la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth, que se transformó en una fundación benéfica con capacidad jurídica en 1995.

 
Presentación

Fundación en memoria de los desarrollos pioneros y el trabajo de toda una vida del Dr.-Ing. Siegfried Werth

En 1951, el Dr.-Ing. Siegfried Werth fundó en Düsseldorf una empresa de aparatos e ingeniería mecánica que fabricaba instrumentos de medición y proyectores de perfiles de medición. En 1958, la empresa se trasladó a Gießen, donde se construyó una nueva planta de producción. Esto constituyó la base de la actual Werth Messtechnik GmbH, que con esta tradición es líder internacional en el campo de la tecnología de medición de coordenadas con óptica, sondas, tomografía computarizada y tecnología de multisensores.

El objetivo de la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth es promover y financiar trabajos científicos en el campo de la metrología dimensional sin contacto. El propósito de la fundación se cumple, en particular, mediante la concesión de premios a los trabajos científicos de jóvenes científicos tras la obtención de su primer título académico en el campo de la metrología industrial o en campos relacionados, o mediante la concesión de contratos de investigación, incluidos proyectos de doctorado, a jóvenes científicos con talento.

El único órgano de la Fundación es el Patronato. Se compone de cuatro patronos honorarios, de entre los cuales se elige al Presidente del Patronato por un periodo de 5 años y que representa a la Fundación junto con otro miembro en todos los asuntos judiciales y extrajudiciales. El domicilio social y la dirección de la Fundación son Siemensstr. 19 en 35394 Gießen.

Presentación - Fundación en memoria de los desarrollos pioneros y el trabajo de toda una vida del Dr.-Ing. Siegfried Werth
 
Currículum vitae

Desarrollador de tecnologías de medición y empresario

El Dr.-Ing. Siegfried Werth fundó una empresa de aparatos e ingeniería mecánica, que más tarde se convirtió en Werth Messtechnik GmbH, e hizo posible la automatización de las mediciones ópticas con el desarrollo del primer sensor óptico para proyectores de medición.

Currículum vitae - Desarrollador de tecnologías de medición y empresario
1907

Nacido en Berlín

1926

Abitur en Berlín

1931

Estudios de ingeniería mecánica en la Technische Hochschule Berlin

1931-1936

Asistente en la Universidad Técnica de Berlín, en el Instituto de Máquinas Herramienta y Gestión de Fábrica

1937

Doctorado en la Universidad Técnica de Berlín

1936-1937

Ingeniero de planta en BMW en Eisenach

1937-1939

Asistente de operaciones en Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) en Núremberg

1939-1941

Director de la planta de MAN en Augsburgo y de la planta de motores en Hamburgo

1941

Manual escrito para los trabajadores de las máquinas

1948

Ingeniero autónomo en Düsseldorf

1951

Fundación de la empresa Werth Apparate- und Maschinenbaufirma en Düsseldorf, diseño y fabricación de instrumentos de medición para la industria del alambre

1951

Dispositivo de medición de matrices de embutición Werth Panohol

1953

Desarrollo de proyectores de perfil

1955

Werth Record – proyector de perfil ergonómico con trayectoria del haz integrada

1958

Nueva sede de la empresa en Gießen

1977

Werth Tastauge – primer sensor de fibra de vidrio para proyectores de medición y perfiles

1979

Cambio de nombre a Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – primer proyector de medición controlado por CNC

1982

Fallecido en Gießen

 
Noticias

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth concedido

Durante una ceremonia celebrada en las instalaciones de Werth Messtechnik GmbH en Gießen, la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth concedió en febrero un premio a un trabajo científico en el campo de la metrología dimensional sin contacto. El ganador del premio es el Sr. Patrick Steidl por una excelente tesis de licenciatura en la Universidad Técnica de Hesse Central, que trata del desarrollo de nuevas tecnologías de sensores para la tomografía por ordenador de rayos X. Como las Jornadas Tecnológicas de Werth, en las que normalmente se celebra la ceremonia de entrega de premios, tuvieron que ser canceladas en la primavera de 2021 debido a la normativa legal, la ceremonia de entrega de premios tuvo lugar a menor escala.

Noticias - Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth concedido
 
Ganadores y beneficiarios de los premios

Trabajo científico destacado en el campo de la metrología dimensional sin contacto

De acuerdo con el propósito de la fundación, los siguientes jóvenes científicos fueron premiados por la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth o su trabajo científico fue apoyado con becas:

Ganadores y beneficiarios de los premios - Trabajo científico destacado en el campo de la metrología dimensional sin contacto
1988

Ing. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Integración del procesamiento de imágenes en los proyectores de perfiles"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU Munich

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Desarrollo de una cámara CCD de alta resolución con resolución programable"

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Universidad de GHS Essen

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Representación generalizada del comportamiento de los chorros libres isotérmicos"

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Sistemas de medición por transformación con evaluación de estructuras de códigos de barras para la medición de trayectorias y ángulos absolutos"

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Double heteroyn interferometry for profile and distance measurement on optically rough surfaces"

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Ralph Peter Knorpp, Instituto Fraunhofer de Stuttgart

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Pautas de forma para la ingeniería inversa Extracción de aristas y líneas de salida del radio a partir de conjuntos de puntos de medición 3D no estructurados"

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Instituto Fraunhofer de Aquisgrán

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"The Virtual Interferometer – Model-based Optimisation"

2000

Profesor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Universidad de Ciencias Aplicadas de Odenburg

Premio especial
"Fotogrametría de corto alcance"

2001

Ing. Simon Winkelbach, Universidad Técnica de Braunschweig

Ingeniero Marcus Jacob, Universidad de Ciencias Aplicadas de Jena

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Escuela Técnica Superior de Buchs, Suiza

Premios especiales por el 50º aniversario de Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr. Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Pose Estimation Revisited"

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Universidad Técnica de Braunschweig

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth "Fotogrametría de reflexión de barrido para la medición de superficies reflectantes"

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Métodos adaptativos para la evaluación de superficies texturadas"

2008

Ingeniero Andreas Gläser, Universidad de Ciencias Aplicadas de Sajonia Occidental, Zwickau

- Beca de doctorado -

2010

Dipl.-Phys.Daniel Weigel, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio de la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth para tesis de máster o diploma sobresalientes
"Resolution increase in optical scanning microscopes with the aid of an image-inverting interferometer"

2011

Dr. Marco Hornung, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio de la Fundación Dr.-Ing. Siegfried Werth para disertaciones destacadas
"Compresor de rejilla de mosaico para pulsos láser de femtosegundo de alta energía"

2012

Florian Flad, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio al mejor proyecto de investigación de un estudiante
"Validación de una simulación de incertidumbre de medición para la tomografía computarizada de rayos X"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Universidad Tecnológica de Braunschweig

Premio a la tesis de licenciatura más destacada
"Desarrollo de la óptica de iluminación de una unidad de proyección microstrip"

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Diseño, realización y caracterización de metamateriales ópticos con índice de refracción negativo"

2012

Martin Peterek, Universidad Técnica Renana-Westfalia de Aquisgrán

Premio a la tesis de licenciatura más destacada
"Compresor de rejilla de mosaico para pulsos láser de femtosegundo de alta energía"

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio a las disertaciones destacadas
"Estimación basada en la simulación de la precisión de las mediciones con tomografía computarizada de rayos X"

2013

Sra. Johanna Witte

Premio a los proyectos de investigación de estudiantes especialmente buenos
"Concepto para medir diámetros de agujeros ciegos profundos"

2013

Carl Alexander Schuler, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio a las tesis más destacadas
"Ampliación de los límites de aplicación de los sensores para la micro y nanometrología mediante el seguimiento dinámico de los sensores a través de la interacción eléctrica de campo cercano con resolución nanométrica"

2013

Jens Thomas, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las tesis más destacadas
"Mode control with ultra-short pulse written fibre Bragg gratings"

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aachen

Premio a la mejor tesis de máster
"Desarrollo de un sistema de tomografía de coherencia óptica (OCT) sensible a la polarización para la medición en tiempo real de materiales semitransparentes"

2014

Marcus Große, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Investigaciones sobre la asignación de puntos basada en la correlación en la medición estereofotogramétrica de objetos en 3D utilizando secuencias de iluminación estructurada"

2014

Julia Kroll, Instituto Fraunhofer de Ingeniería de Fabricación y Automatización IPA, Stuttgart

Premio a las mejores disertaciones
"Task-adapted, controlled surface extraction from 3D computed tomography data"

2014

Sebastian Pollmanns, Cátedra de Metrología de la Producción y Gestión de la Calidad Laboratorio de Máquina-Herramienta WZL, Universidad RWTH Aachen

Premio para disertaciones destacadas
"Determinación de las contribuciones de la incertidumbre en las mediciones de la tomografía computarizada médica para la cirugía navegada basada en imágenes"

2015

Michael Zürch, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Microscopía ultravioleta extrema de alta resolución"

2015

Mario Salzinger, Universidad Tecnológica de Deggendorf

Premio para tesis de licenciatura especialmente buenas
"Investigación de las propiedades de los filtros al medir con tomografía computarizada industrial en comparación con los sistemas de medición táctil"

2015

Lizhuo Chen, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio a las mejores disertaciones
"Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media

2015

Wito Hartmann, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio a las disertaciones destacadas
"Estrategias de medición y evaluación para la valoración basada en modelos de las propiedades funcionales de las superficies microestructuradas"

2016

Ruedi Jung, Universidad Friedrich-Alexander de Erlangen-Nuremberg

Premio a la mejor tesis de máster
"Investigaciones sobre el efecto de diversas variables de influencia en las mediciones de tomografía computarizada dimensional"

2016

Angela Klein, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

2017

Anton Sigl, Universidad de Ciencias Aplicadas de Deggendorf

Premio para tesis de licenciatura especialmente buenas
"Diseño y construcción de un sistema modular de TC para aplicaciones micro y sub-µ"

2017

Marc Fischer, Universidad Técnica de Braunschweig

Premio a las disertaciones destacadas
"Deflectometría en transmisión – Un nuevo método de medición para detectar la geometría de las ópticas refractivas asféricas"

2017

Arno Klenke, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses"

2018

Stefan Heist, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las tesis más destacadas
"Medición de la forma 3D a alta velocidad mediante patrones sinusoidales aperiódicos"

2018

Robert Kuschmierz, Universidad Tecnológica de Dresde

Premio a las disertaciones destacadas
"Sensores láser interferométricos para la medición tridimensional e in situ de la forma de los cuerpos en rotación"

2019

Sina Saravi, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las mejores disertaciones
"Generación de pares de fotones en guías de onda de cristal fotónico

2019

Joscha Maier, Centro Alemán de Investigación del Cáncer de Heidelberg

Premio a las mejores disertaciones
"Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology"

2019

Klaus Bergner, Instituto Fraunhofer de Óptica Aplicada e Ingeniería de Precisión IOF Jena

Premio a las tesis más destacadas
"Time- and spatially-resolved analysis of the interaction of intense ultrashort laser pulses with glasses"

2019

Henrik Sprankel, Universidad Técnica de Hesse Central

Premio a las tesis de licenciatura especialmente buenas
"Investigación de las variables que influyen en la desviación de la medición de la longitud en la medición de coordenadas con tomografía computerizada de rayos X"

2020

Silvan Othmar Ammann y Gilson Orlando, Universidad Interestatal de Ciencias Aplicadas de Buchs (NTB)

Premio para tesis de licenciatura especialmente buenas
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Instituto Fraunhofer de Óptica Aplicada e Ingeniería de Precisión IOF Jena

Premio a las tesis más destacadas
"Propagación de la luz a medida mediante rejillas de fibra de largo periodo escritas con pulsos de femtosegundo"

2020

Martin Heusinger, Universidad Friedrich Schiller de Jena (Facultad de Física y Astronomía)

Premio a las disertaciones destacadas
"Investigaciones sobre la luz dispersa determinista y estocástica en rejillas de difracción binarias de alta eficiencia"

2020

Julian Wittmann, Universidad de Ciencias Aplicadas de Deggendorf

Premio a la tesis de máster sobresaliente
"Determinación de un modelo 3D del volumen interior de los zapatos con ayuda de datos de tomografía computerizada"

2021

Patrick Steidl, Universidad Técnica de Hesse Central

Premio para tesis de licenciatura especialmente buenas
"Contribuciones al desarrollo de un detector de rayos X para máquinas de medición de coordenadas con tomografía computarizada de rayos X"

2021

Thomas Siefke, Universidad Friedrich Schiller de Jena

Premio a las disertaciones destacadas
"Desarrollo de polarizadores de rejilla para aplicaciones en el rango espectral ultravioleta a ultravioleta de vacío"

2021

Roy Seitz, OST Universidad de Ciencias Aplicadas de Suiza Oriental

Premio a la mejor tesis de máster
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Universidad Tecnológica de Dresde

Premio a las tesis más destacadas
"Corrección óptica adaptativa del frente de onda utilizando la estrella guía de Fresnel y un bucle de control híbrido implementado en un sistema en chip programable en campo"

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