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Fondation Siegfried Werth (Dr-Ing)

Promotion de travaux scientifiques dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact. technique de mesure

Ing. Siegfried Werth, sa veuve, Mme C. H. Maria Werth, a créé en 1987 la fondation Siegfried Werth, qui est devenue en 1995 une fondation d'utilité publique dotée de la personnalité juridique.

 
Présentation

Fondation à la mémoire des développements d'avenir et de l'œuvre de la vie du Dr Siegfried Werth

Siegfried Werth a fondé en 1951 une entreprise de construction d'appareils et de machines à Düsseldorf, qui fabriquait des appareils de mesure et des projecteurs de profil de mesure. En 1958, l'entreprise s'est installée à Giessen, où un nouveau site de production a été construit. Celui-ci a constitué la base de l'actuelle société Werth Messtechnik GmbH, qui, dans cette tradition, est leader international dans le domaine de technique de mesure à coordonnées avec optique, palpeur, tomographie assistée par ordinateur et multisensoriel.

L'objectif de la fondation Siegfried Werth est de promouvoir et de financer des travaux scientifiques dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact technique de mesure. L'objectif de la fondation est notamment atteint en récompensant les travaux scientifiques de jeunes scientifiques après l'obtention du premier diplôme universitaire dans le domaine de la technologie industrielle technique de mesure ou dans des domaines apparentés, ou en attribuant des contrats de recherche, y compris des projets de doctorat, à de jeunes scientifiques talentueux.

L'organe unique de la fondation est le conseil d'administration. Il est composé de quatre administrateurs bénévoles parmi lesquels est élu le président du conseil d'administration pour un mandat de cinq ans. Celui-ci représente la fondation avec un autre membre dans toutes les affaires judiciaires et extrajudiciaires. Le siège et l'adresse de la fondation sont Siemensstr. 19 à 35394 Giessen.

Présentation - Fondation à la mémoire des développements d'avenir et de l'œuvre de la vie du Dr Siegfried Werth
 
CV

Technique de mesure-Développeur et entrepreneur

Siegfried Werth a fondé une entreprise de construction d'appareils et de machines qui a ensuite donné naissance à Werth Messtechnik GmbH. Il a rendu possible les mesures optiques sur automatisation grâce à développement, le premier capteur optique pour projecteurs de mesure.

CV - Technique de mesure-Développeur et entrepreneur
1907

Née à Berlin

1926

Baccalauréat à Berlin

1931

Études de génie mécanique à l'Université technique de Berlin

1931-1936

Assistant à l'Université technique de Berlin, à l'Institut des machines-outils et de l'exploitation des usines

1937

Promotion à l'Université technique de Berlin

1936-1937

Ingénieur d'exploitation chez BMW à Eisenach

1937-1939

Assistant d'exploitation dans l'usine de machines Augsburg-Nürnberg (MAN) à Nuremberg

1939-1941

Directeur d'exploitation à l'usine MAN d'Augsbourg et à l'usine de moteurs de Hambourg

1941

Manuel rédigé pour les travailleurs sur machines

1948

Ingénieur indépendant à Düsseldorf

1951

Fondation de la société Werth Apparate- und Maschinenbaufirma à Düsseldorf, construction et Fabrication d'appareils de mesure pour l'industrie du fil métallique

1951

Appareil de mesure des filières Werth Panohol

1953

Développement de projecteurs de profil

1955

Werth Record – ergonomique projecteur de profil avec faisceau intégré

1958

Nouveau site de l'entreprise à Giessen

1977

Werth Tastauge– Premier capteur à fibre optique pour les projecteurs de mesure et de profil

1979

Changement de nom en Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – première machine à commande numérique CNC projecteur de mesure

1982

Décédé à Giessen

 
Actualités

Prix Siegfried Werth décerné par le Dr

Dans le cadre d'une cérémonie organisée dans les locaux de Werth Messtechnik GmbH à Giessen, la fondation Dr.-Ing. Siegfried Werth a récompensé en février un travail scientifique dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact technique de mesure. lauréats, M. Patrick Steidl a été récompensé pour un excellent travail de bachelor réalisé à l'Université technique de Hesse centrale, qui porte sur développement de nouvelles technologies de capteurs pour tomographie à rayons X assistée par ordinateur. Comme les journées techniques Werth, dans le cadre desquelles la remise des prix a normalement lieu, ont dû être annulées au printemps 2021 en raison des dispositions légales, la remise des prix a eu lieu en petit comité.

Actualités - Prix Siegfried Werth décerné par le Dr
 
Lauréats et soutenu

Travaux scientifiques remarquables dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact. technique de mesure

Conformément à l'objectif de la fondation, les jeunes scientifiques suivants ont été récompensés par des prix de la fondation Dr.-Ing. Siegfried Werth ou leurs travaux scientifiques ont été encouragés par des bourses :

Lauréats et soutenu - Travaux scientifiques remarquables dans le domaine de la mesure dimensionnelle sans contact. technique de mesure
1988

Ingénieur Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Prix Siegfried Werth
"Intégration du traitement d'images dans les projecteurs de profil"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, Université technique de Munich

Prix Siegfried Werth
"développement une caméra CCD à haute résolution avec résolution programmable "

1991

Thomas Sefker, Université GHS Essen

Prix Siegfried Werth
"Représentation généralisée du comportement des rayons libres isothermes"

1994

Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Ing. Siegfried Werth Prix
"Systèmes de mesure à transformations avec évaluation de structures de codes à barres pour la mesure absolue de déplacements et d'angles"

1996

Ingénieur Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Ing. Siegfried Werth Prix
"Interférométrie à double hétérodyne pour la mesure de profils et de distances sur des surfaces optiquement rugueuses"

1998

Ralph Peter Knorpp, Institut Fraunhofer de Stuttgart, Allemagne

Ing. Siegfried Werth Prix
"Lignes directrices de forme pour le retour de surface extraction d'arêtes et de lignes de sortie de rayon à partir d'ensembles de points de mesure 3D non structurés"

2000

Ingénieur Horst Konstantin Mischo, Institut Fraunhofer d'Aix-la-Chapelle

Prix Siegfried Werth
"L'interféromètre virtuel – Optimisation basée sur un modèle"

2000

Professeur Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Université des sciences appliquées d'Odenburg

Prix spécial
"Photogrammétrie de proximité"

2001

Ingénieur diplômé Simon Winkelbach, Université technique de Braunschweig

Marcus Jacob, Université des sciences appliquées de Iéna

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Technikum Buchs, Suisse

Prix spéciaux pour le 50e anniversaire de l'entreprise Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr. Bodo Rosenhahn, Université Christian Albrecht de Kiel

Prix Siegfried Werth
"Pose Estimation Revisited"

2005

Marcus Petz, Université technique de Braunschweig

Siegfried Werth Prix "Photogrammétrie par réflexion de trame pour mesure surfaces réfléchissantes"

2006

Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Prix Siegfried Werth
"Procédés adaptatifs pour l'évaluation des surfaces texturées"

2008

Ingénieur diplômé Andreas Gläser, Université de Zwickau (Westsächsische Hochschule Zwickau)

- Bourse de doctorat -

2010

Daniel Weigel, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix de la fondation Dr.-Ing. Siegfried Werth pour des travaux de master ou de diplôme exceptionnels
"Augmentation de la résolution des microscopes optiques à balayage à l'aide d'un interféromètre inverseur d'images"

2011

Dr. Marco Hornung, Université Friedrich Schiller de Iéna

Prix de la fondation Dr.-Ing. Siegfried Werth pour des thèses remarquables
"Compresseur à réseau mosaïque pour impulsions laser femtosecondes de haute énergie"

2012

Florian Flad, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix d'excellence pour travaux d'études
"Validation d'une simulation d'incertitude de mesure pour la tomographie informatisée à rayons X"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Université technique de Braunschweig

Prix d'excellence pour les mémoires de fin d'études
"développement de l'optique d'éclairage d'une unité de projection de microbandes "

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Conception, réalisation et caractérisation de métamatériaux optiques à indice de réfraction négatif"

2012

Martin Peterek, Université technique de Rhénanie-Westphalie à Aix-la-Chapelle

Prix d'excellence pour les mémoires de fin d'études
"Compresseur à réseau mosaïque pour impulsions laser femtosecondes de haute énergie"

2012

Ing. Philipp Krämer, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Estimation par simulation de la précision des mesures par tomographie informatisée à rayons X"

2013

Mme Johanna Witte

Prix pour des travaux d'études particulièrement bons
"Concept pour mesure des diamètres de trous borgnes profonds"

2013

Carl Alexander Schuler, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix pour thèses de doctorat exceptionnelles
"Extension des limites d'utilisation des capteurs pour la micro et nanotechnique de mesure par suivi dynamique des capteurs en utilisant l'interaction électrique en champ proche à résolution nanométrique"

2013

Jens Thomas, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Mode control with ultra-short pulse written fiber Bragg gratings" (contrôle de mode avec des fibres de Bragg à impulsions ultracourtes)

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aix-la-Chapelle

Prix d'excellence pour les travaux de master
"développement d'un système de tomographie par cohérence optique (OCT) sensible à la polarisation pour la mesure en temps réel de matériaux semi-transparents "

2014

Marcus Große, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix pour thèse de doctorat exceptionnelle
"Untersuchungen zur korrelationsbasierten Punktzuordnung in der stereophotogrammtrischen 3D-Objektvermessung unter Verwendung von Sequenzen strukturierter Beleuchtung" (Recherches sur l'attribution de points basée sur la corrélation dans la mesure stéréophotogrammétrique d'objets en 3D à l'aide de séquences d'éclairage structuré)

2014

Julia Kroll, Institut Fraunhofer pour les techniques de production et automatisation IPA, Stuttgart

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Aufgabenangepasste, kontrollierte Oberflächenextraktion aus 3D-Computertomographiedaten" (Extraction de surface contrôlée et adaptée aux tâches à partir de données de tomographie assistée par ordinateur)

2014

Sebastian Pollmanns, chaire de technique de mesure de la fabrication et de gestion de la qualité Laboratoire de machines-outils WZL de la RWTH Aix-la-Chapelle

Prix d'excellence pour les thèses
"Détermination des contributions à l'incertitude dans les mesures de tomographie médicale assistée par ordinateur pour la chirurgie naviguée basée sur l'image"

2015

Michael Zürch, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy"

2015

Mario Salzinger, Université technique de Deggendorf

Prix pour des travaux de bachelor particulièrement bons
"Etude des propriétés de filtrage lors de mesurer avec la tomographie industrielle assistée par ordinateur en comparaison avec des systèmes de mesure tactiles"

2015

Lizhuo Chen, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix d'excellence pour les thèses
"Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media"

2015

Wito Hartmann, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix d'excellence pour les thèses
"Stratégies de mesure et d'évaluation pour l'évaluation basée sur un modèle des propriétés fonctionnelles des surfaces microstructurées"

2016

Ruedi Jung, Université Friedrich-Alexander d'Erlangen-Nuremberg

Prix pour un excellent travail de master
"Untersuchungen zur Auswirkungen verschiedener Einflussgrößen auf dimensionelle Computertomographie-Messungen" (Recherches sur l'effet de différentes grandeurs d'influence sur les mesures de tomographie assistée par ordinateur)

2016

Angela Klein, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses
"Scanning Near-Field Optical Microscopy : From Single-Tip to Dual-Tip Operation" (Microscopie optique à balayage de champ proche : de l'embout unique à l'embout double)

2017

Anton Sigl, Université technique de Deggendorf

Prix pour les travaux de bachelor particulièrement bons
"construction et construction d'un système modulaire de CT pour les applications micro et sub-µ"

2017

Marc Fischer, Université technique de Braunschweig

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Deflectometry in Transmission – A new measurement procedure to detect the geometry of aspharic refractive optics" (Déflectométrie en transmission Une nouvelle méthode de mesure pour la détection de la géométrie des optiques réfractives asphériques)

2017

Arno Klenke, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix pour thèses exceptionnelles
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses" (mise à l'échelle des performances des amplificateurs laser via une combinaison cohérente d'impulsions ultracourtes)

2018

Stefan Heist, Université Friedrich-Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Mesure de forme 3D à haute vitesse au moyen de modèles sinusoïdaux apériodiques"

2018

Robert Kuschmierz, Université technique de Dresde

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Capteurs laser interférométriques pour la mesure tridimensionnelle et in situ de la forme de corps en rotation"

2019

Sina Saravi, Université Friedrich Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Photon-pair generation in photonic crystal waveguides

2019

Joscha Maier, Centre allemand de recherche sur le cancer, Heidelberg

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology"

2019

Klaus Bergner, Institut Fraunhofer d'optique appliquée et de mécanique de précision IOF Jena

Prix d'excellence pour les thèses
"Analyse résolue en temps et en lieu de l'interaction d'impulsions laser ultracourtes intenses avec des verres"

2019

Henrik Sprankel, Université technique de Mittelhessen

Prix pour les travaux de bachelor particulièrement bons
"Etude des facteurs d'influence sur ecart de mesure de la longueur lors de la mesure de coordonnées avec tomographie à rayons X assistée par ordinateur"

2020

Silvan Othmar Ammann et Gilson Orlando, Haute école technique interétatique de Buchs (NTB)

Prix pour un travail de bachelor particulièrement bon
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Institut Fraunhofer d'optique appliquée et de mécanique de précision IOF Jena

Prix d'excellence pour les thèses
"Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fiber gratings" (propagation détaillée de la lumière par impulsion femtoseconde sur des fibres à longue période)

2020

Martin Heusinger, Friedrich Schiller Universität Jena (Faculté de physique et d'astronomie)

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"Untersuchungen zu deterministischem und stochastischem Streulicht in hocheffizienten binären Beugungsgittern" (Recherches sur la lumière diffusée déterministe et stochastique dans les réseaux de diffraction binaires à haute efficacité)

2020

Julian Wittmann, Université technique de Deggendorf

Prix pour un excellent travail de master
"Détermination d'un modèle 3D du volume intérieur de chaussures à l'aide de données de tomographie assistée par ordinateur"

2021

Patrick Steidl, Université technique de Mittelhessen

Prix pour des travaux de bachelor particulièrement bons
"Contributions à développement d'un détecteur de rayons X pour machines de mesure de coordonnées avec tomographie à rayons X assistée par ordinateur"

2021

Thomas Siefke, Université Friedrich Schiller de Iéna

Prix d'excellence pour les thèses de doctorat
"développement de polarisateurs à grille de fils pour des applications dans le domaine spectral de l'ultraviolet à l'ultraviolet sous vide"

2021

Roy Seitz, OST Haute école spécialisée de Suisse orientale

Prix d'excellence pour les travaux de master
"StereoVision : High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Université technique de Dresde

Prix d'excellence pour les thèses
"Adaptive optical wave front correction using the Fresnel guider star and an hybrid control circuit implemented on a field-programmable system on chip" (Correction adaptative du front d'onde optique utilisant l'étoile de Fresnel et un circuit de contrôle hybride implémenté sur un système sur puce programmable)

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