Werth TomoScope® XS Plus

在狭小空间内实现更大的测量体积和更高的分辨率 - 使用工业计算机断层扫描技术(CT)进行完整和精确的测量

设计 带有X射线计算机断层扫描传感器的坐标测量机。
最大零件尺寸 最大直径Ø=约289mm;最大长度L=约456mm(取决于组件的纵横比)
最大允许长度测量误差 低至4.5µm
应用范围 使用工业计算机断层扫描技术对连接器,塑料外壳和盖子,3D打印零件,包装盒,PET瓶和型坯的三维测量和检查。

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