Werth 干涉探头 WIP

Werth 干涉仪探测器 WIP

带有的小型探头高精度测量

WIP是一种无触点光纤测距传感器,主要用于对Werth多功能坐标测量机的几何参数、形状和粗糙度的高精度测量。由于探头体型很小,使得其可以很好地完成那些难以进入的几何特征的测量,例如小孔、深孔(喷嘴、涡轮叶片) 和细槽(电动机转子)。由于WIP的探测误差很小,只有0.25微米,因此该传感器也适用于测量镜片表面、玻璃上的石印结构或晶片上的结构。传感头的直径一般在0.1毫米至1毫米之间,长度一般在5毫米至50毫米之间。

 

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