多传感器坐标测量技术:使用光学元件,按钮和X射线断层扫描进行尺寸测量

“技术图书馆”系列中的新书

以“多传感器坐标计量”为标题,该技术于2003年首次被集中报道(第248卷)。 2006年,对内容进行了修订和扩展,以包含X射线计算机断层扫描的主题。 2011年,出版了第231卷,专门涵盖了X射线计算机断层扫描的坐标测量技术。 这就是使用新标题开发新卷352的原因。在此,随着范围的扩大,考虑了多传感器技术的重要性。在功能和应用方面对此进行了详细显示。还有其他重要主题,例如B.记录接触力和温度的影响。

 

新的技术书籍“多传感器坐标计量-光学,扫描仪和X射线断层扫描的尺寸测量”为用户提供了日常工作的最新详细技术信息。

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