书籍介绍

多传感器坐标测量技术》

在生产线和质检室用于形状,尺寸及位置的测量

在辛斯海姆的"控制 2003"展览会上,Werth测量技术有限公司推出了第一本关于《多传感器坐标测量技术》的专业书籍。 它填补了到目前为止涉及机械探测与关于坐标测量技术的文献之间的空白。 它决定了具有更多的灵活性和测量速度的光学传感器的市场趋势。

Werth测量技术有限公司通过60年来对光学测量技术的潜心研究,系统、明确地阐述了各种测量技术的要点及相互关系。

通过回顾光学坐标测量技术的发展历程,对各种光学传感器基本原理和功能进行了描述,如图像处理、激光和机械传感器。随着测量任务越来越复杂,测量工件越来越小,光电式传感器的应用日益迫切,这也是本书重点讲述的相关技术。从结构设计等各个方面,阐述了用于生产线及计量室的不同精度等级的机型。 除了以上硬件知识,本书还介绍了多传感器技术的相关测量软件和应用模块,以及与CAD技术的对接。在本书的最后章节,围绕着测量精度,以及仪器指标,测量不确定度和测量工艺能力展开了讨论。 并通过塑料、五金、刀具、微几何结构等行业的典型案例表明了多传感器坐标测量技术的应用领域。

此书特别适合于对制造和计量感兴趣的专家,对于多传感器坐标测量技术的理解。 通过实际案例,深入浅出地解释了应用的可行性及技术约束,为选择正确的测量方式和合适的传感器的提供了方便。因此,推荐此书给所有从事制造行业尺寸测量的工作者。

 

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