Werth线色谱传感器CFL

被用于各种表面快速测量的高精度的线色谱传感器

CFL被用于快速采集整个零件的几何形状。它既可以用于漫反射和镜面的表面测量,也可以被用于透明表面和带大倾斜角的表面的测量。CFL在高速测量时的测量精确度达到精密零件和微特征的测量要求。该传感器被用于镜面或者透明零件的测量,如压印冲头或者合金及金刚石刀具;也被用于具有漫反射表面的塑料零件。通过高点密度来确定不同表面的形貌,如精密机械零件的表盘。CFL还被用于在半导体领域的LED阵列的共面性测量。

 

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