Werth 色彩聚焦探头 CFP

Werth 点色谱传感器 CFP

被用于各种表面快速测量的高精度的点色谱传感器

CFP在很大程度上不受表面特性影响,完成高点密度的尺寸、形状和位置偏差的测量。它既可以用于漫反射的表面测量,也可以被用于镜面和透明表面的测量。在工具制造、电子制造和精密光学方面被广泛应用。除了冲压模具,接插件的焊料点的共面性和高精密的表盘,CFP还被用于测量光学功能面,如透镜或者玻璃。


 

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