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Fette di wafer - Fogli rotondi di silicio che servono come base per i circuiti integrati

Fette di wafer

Fogli rotondi di silicio che servono come base per i circuiti integrati

Il più importante proprietà geometrica è il sito planarità dell'intera superficie del wafer.
Inoltre, fette di wafer viene ispezionato per verificare la presenza di inclusioni e danni superficiali. I requisiti del sito velocità di misurazione sono talvolta molto elevati per il monitoraggio dei processi.

ScopeCheck® S

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Il sito macchina di misura a coordinate multisensore per fiere piccoli pezzi
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Werth Image Processing BV
Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
Sensore
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Zoom a fuoco cromatico CFZ
Sensore
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Zoom Werth
Accessori
Zoom Werth
Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
Accessori
Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
Asse di ritrazione del cambio
Accessori
Asse di ritrazione del cambio
ScopeCheck® FB

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Design stabile con portale fisso per controllo della produzione economico con basse incertezze di misura
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Werth Image Processing BV
Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
Sensore
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Zoom a fuoco cromatico CFZ
Sensore
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Linea di messa a fuoco cromatica sensore CFL
Sensore
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Zoom Werth
Accessori
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Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
Accessori
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Asse di ritrazione del cambio
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VideoCheck® S

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Il preciso macchina di misura a coordinate multisensore per la misurazione lavorazione di pezzi più piccoli
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Werth Image Processing BV
Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
Sensore
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Zoom a fuoco cromatico CFZ
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Linea di messa a fuoco cromatica sensore CFL
Sensore
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Sonda Nano Focus NFP
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Zoom Werth
Accessori
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Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
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Asse di ritrazione del cambio
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VideoCheck® FB

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Il preciso macchina di misura a coordinate multisensore per misurazione pezzi di grandi dimensioni, con assi Z multipli su richiesta
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Werth Image Processing BV
Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
Sensore
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Zoom a fuoco cromatico CFZ
Sensore
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Linea di messa a fuoco cromatica sensore CFL
Sensore
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Sonda Nano Focus NFP
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Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
Accessori
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Asse di ritrazione del cambio
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VideoCheck® HA

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L'alta precisione macchina di misura a coordinate multisensore per misurazione pezzi di grandi dimensioni, con assi Z multipli su richiesta
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Werth Image Processing BV
Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
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Zoom a fuoco cromatico CFZ
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Linea di messa a fuoco cromatica sensore CFL
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Sonda Nano Focus NFP
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Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
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Asse di ritrazione del cambio
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VideoCheck® UA

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L'ultra-preciso macchina di misura a coordinate multisensore
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Sensore
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Punto di messa a fuoco cromatico sensore CFP
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Sonda Nano Focus NFP
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Accessori
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Telecentrico obiettivo con ingrandimento costante
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Asse di ritrazione del cambio
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