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Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth

Promozione del lavoro scientifico nel campo delle dimensioni senza contatto metrologia

Dopo la morte del Dr.-Ing. Siegfried Werth, la sua vedova, la signora C. H. Maria Werth, ha istituito nel 1987 la Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth, che nel 1995 è stata trasformata in una fondazione di pubblica utilità con capacità giuridica.

 
Presentazione

Fondazione in memoria degli sviluppi pionieristici e del lavoro di una vita del Dr.-Ing. Siegfried Werth

Dr.-Ing. Siegfried Werth ha fondato nel 1951 a Düsseldorf un'azienda di apparecchiature e ingegneria meccanica che produceva strumenti di misura e proiettori di profili di misura. Nel 1958, l'azienda si trasferì su Giessen, dove fu costruito un nuovo stabilimento di produzione. Questo formò la base per l'odierna Werth Messtechnik GmbH, che in questa tradizione è un leader internazionale nel campo di tecnologia di misurazione a coordinate con ottica, scanner, tomografia computerizzata e tecnologia multisensore.

Lo scopo della Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth è quello di promuovere e finanziare il lavoro scientifico nel campo delle dimensioni senza contatto metrologia. Lo scopo della fondazione è realizzato in particolare assegnando premi per il lavoro scientifico di giovani scienziati dopo che hanno ottenuto il loro primo grado accademico nel campo dell'industria metrologia o campi correlati o assegnando contratti di ricerca compresi i progetti di dottorato a giovani scienziati di talento.

L'unico organo della Fondazione è il Consiglio di fondazione. Si compone di quattro amministratori onorari, tra i quali viene eletto per un periodo di cinque anni il Presidente del Consiglio di fondazione che, insieme ad un altro membro, rappresenta la Fondazione in tutte le questioni giudiziarie ed extragiudiziarie. La sede legale e l'indirizzo della Fondazione è Siemensstr. 19 in 35394 Giessen.

Presentazione - Fondazione in memoria degli sviluppi pionieristici e del lavoro di una vita del Dr.-Ing. Siegfried Werth
 
Curriculum Vitae

Metrologia- Sviluppatore e imprenditore

Il Dr.-Ing. Siegfried Werth fondò un'azienda di apparecchiature e ingegneria meccanica, che più tardi divenne Werth Messtechnik GmbH, e rese possibile il automazione delle misure ottiche con il sviluppo del primo sensore ottico per proiettori di misura.

Curriculum Vitae - Metrologia- Sviluppatore e imprenditore
1907

Nato a Berlino

1926

Abitur a Berlino

1931

Studi di ingegneria meccanica alla Technische Hochschule Berlin

1931-1936

Assistente all'Università Tecnica di Berlino, presso l'Istituto per le macchine utensili e la gestione della fabbrica

1937

Promozione presso l'Università Tecnica di Berlino

1936-1937

Ingegnere di stabilimento alla BMW di Eisenach

1937-1939

Assistente operativo presso la Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) a Norimberga

1939-1941

Direttore di stabilimento presso lo stabilimento MAN di Augsburg e lo stabilimento motori di Amburgo

1941

Manuale scritto per i lavoratori delle macchine

1948

Ingegnere autonomo a Düsseldorf

1951

Fondazione della Werth Apparate- und Maschinenbaufirma a Düsseldorf, costruzione e produzione di dispositivi di misurazione per l'industria del filo

1951

Dispositivo di misurazione degli stampi di imbutitura Werth Panohol

1953

Sviluppo del profilo del proiettore

1955

Werth Record – ergonomico proiettore di profilo con percorso del fascio integrato

1958

Nuova sede dell'azienda in Giessen

1977

Werth Tastauge– Primo sensore a fibra ottica per proiettori di misura e di profilo

1979

Cambio di nome in Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – primo CNC controllato proiettore di misura

1982

Deceduto in Giessen

 
Notizie

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth assegnato

Durante una cerimonia presso la sede di Werth Messtechnik GmbH in Giessen nel mese di febbraio, la Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth ha premiato un lavoro scientifico nel campo delle dimensioni senza contatto metrologia. laureato è il signor Patrick Steidl per un'eccellente tesi di laurea presso l'Università Tecnica dell'Assia Centrale, che si occupa del sviluppo di nuove tecnologie di sensori per il tomografia computerizzata a raggi X. Dato che i Werth Technology Days, durante i quali normalmente si svolge la cerimonia di premiazione, hanno dovuto essere cancellati nella primavera del 2021 a causa di regolamenti legali, la cerimonia di premiazione si è svolta su scala ridotta.

Notizie - Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth assegnato
 
Progetti premiati e sponosorizzati

Lavoro scientifico eccezionale nel campo della misurazione dimensionale senza contatto. metrologia

In accordo con lo scopo della fondazione, i seguenti giovani scienziati sono stati premiati dalla Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth o il lavoro scientifico è stato sostenuto da borse di studio:

Progetti premiati e sponosorizzati - Lavoro scientifico eccezionale nel campo della misurazione dimensionale senza contatto. metrologia
1988

Ing. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stoccarda

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Integrazione dell'elaborazione delle immagini nei proiettori di profili"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU Monaco

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"sviluppo di una telecamera CCD ad alta risoluzione con risoluzione programmabile "

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Università di GHS Essen

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Rappresentazione generalizzata del comportamento dei getti liberi isotermici"

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Sistemi di misurazione della trasformazione con valutazione delle strutture dei codici a barre per la misurazione assoluta del percorso e dell'angolo"

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stoccarda

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Interferometria a doppio heteroyn per la misurazione di profili e distanze su superfici otticamente ruvide"

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Ralph Peter Knorpp, Istituto Fraunhofer di Stoccarda

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Linee guida di forma per il reverse engineering estrazione di bordi e linee di fuga del raggio da serie di punti di misurazione 3D non strutturati"

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Istituto Fraunhofer Aachen

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"L'interferometro virtuale – Ottimizzazione basata sul modello"

2000

Professore Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Università di Scienze Applicate di Odenburg

Premio speciale
"Close-range photogrammetry"

2001

Ing. Simon Winkelbach, Università tecnica di Braunschweig

Ing. Marcus Jacob, Università di Scienze Applicate di Jena

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Buchs Technical College, Svizzera

Premi speciali per il 50° anniversario di Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Pose Estimation Revisited"

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Università tecnica di Braunschweig

Dr.-Ing. Siegfried Werth Premio "Fotogrammetria a riflessione raster per misurazione superfici riflettenti"

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stoccarda

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Metodi adattivi per la valutazione di superfici strutturate"

2008

Dipl.-Ing. Andreas Gläser, Università di Scienze Applicate della Sassonia occidentale Zwickau

- Borsa di studio per il dottorato -

2010

Dipl.-Phys.Daniel Weigel, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio della Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth per tesi di master o di diploma eccezionali
"Resolution increase in optical scanning microscopes with the aid of an image-inverting interferometer"

2011

Dr. Marco Hornung, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio della Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth per tesi eccellenti
"Mosaic Grating Compressor for Femtosecond Laser Pulses of High energia"

2012

Florian Flad, Università Friedrich-Alexander di Erlangen-Norimberga

Premio per l'eccezionale progetto di ricerca degli studenti
"Convalida di una simulazione dell'incertezza di misura per la tomografia computerizzata a raggi X"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Università di Tecnologia di Braunschweig

Premio per l'eccellente tesi di diploma
"sviluppo dell'ottica di illuminazione di una microstrip di proiezione"

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccellenti
"Progettazione, realizzazione e caratterizzazione di metamateriali ottici con indice di rifrazione negativo"

2012

Martin Peterek, Università tecnica renano-westfalica di Aachen

Premio per l'eccellente tesi di diploma
"Compressore a reticolo mosaico per impulsi laser a femtosecondi di alto energia"

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Università Friedrich-Alexander Erlangen-Norimberga

Premio per tesi eccezionali
"Stima basata sulla simulazione della precisione delle misure con la tomografia computerizzata a raggi X"

2013

Signora Johanna Witte

Premio per progetti di ricerca di studenti particolarmente buoni
"Concept for misurazione deep blind hole diameters"

2013

Carl Alexander Schuler, Università Friedrich-Alexander di Erlangen-Norimberga

Premio per dissertazioni eccezionali
"Estensione dei limiti di applicazione dei sensori per la micro- e nanometrologia mediante l'inseguimento dinamico dei sensori utilizzando l'interazione elettrica near-field risolta in nanometria"

2013

Jens Thomas, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Mode control with ultra-short pulse written fiber Bragg gratings"

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aachen

Premio per l'eccellente tesi di Master
"sviluppo di un sistema di tomografia a coerenza ottica (OCT) sensibile alla polarizzazione per la misurazione in tempo reale di materiali semitrasparenti"

2014

Marcus Große, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Indagini sull'assegnazione di punti basati sulla correlazione nella misurazione stereofotogrammetrica di oggetti 3D utilizzando sequenze di illuminazione strutturata"

2014

Julia Kroll, Istituto Fraunhofer per l'ingegneria della produzione e automazione IPA, Stoccarda

Premio per tesi eccezionali
"Estrazione di superfici controllata e adattata al compito da dati di tomografia computerizzata 3D"

2014

Sebastian Pollmanns, cattedra di metrologia di produzione e gestione della qualità Laboratorio di macchine utensili WZL all'Università RWTH Aachen

Premio per tesi eccezionali
"Determinazione dei contributi di incertezza nelle misure di tomografia computerizzata medica per la chirurgia navigata basata sulle immagini"

2015

Michael Zürch, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Microscopia ultravioletta estrema ad alta risoluzione"

2015

Mario Salzinger, Università di Scienze Applicate di Deggendorf

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Indagine sulle proprietà dei filtri su fiere con la tomografia computerizzata industriale in confronto con i sistemi di misurazione tattile"

2015

Lizhuo Chen, Università Friedrich-Alexander di Erlangen-Norimberga

Premio per tesi eccellenti
"Tomografia a rifrazione della luce per misure non invasive di ultrasuoni in vari mezzi

2015

Wito Hartmann, Università Friedrich-Alexander di Erlangen-Norimberga

Premio per tesi eccellenti
"Strategie di misurazione e valutazione per la valutazione basata su modelli delle proprietà funzionali delle superfici microstrutturate"

2016

Ruedi Jung, Università Friedrich-Alexander di Erlangen-Norimberga

Premio per l'eccellente tesi di Master
"Indagini sull'effetto di varie variabili di influenza sulle misure di tomografia computerizzata dimensionale"

2016

Angela Klein, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

2017

Anton Sigl, Università di tecnologia di Deggendorf

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"costruzione e costruzione di un sistema CT modulare per applicazioni micro e sub-µ"

2017

Marc Fischer, Università tecnica di Braunschweig

Premio per tesi di laurea eccellenti
"Deflettometria in trasmissione – Un nuovo metodo di misurazione per rilevare la geometria delle ottiche refrattive asferiche"

2017

Arno Klenke, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses"

2018

Stefan Heist, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"Misurazione di forma 3D ad alta velocità utilizzando modelli sinusoidali aperiodici"

2018

Robert Kuschmierz, Università di Tecnologia di Dresda

Premio per tesi eccellenti
"Sensori laser interferometrici per la misurazione tridimensionale e in situ della forma di corpi rotanti"

2019

Sina Saravi, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per dissertazioni eccellenti
"Generazione di coppie di fotoni in guide d'onda di cristallo fotonico

2019

Joscha Maier, Centro tedesco di ricerca sul cancro di Heidelberg

Premio per tesi eccezionali
"Correzione degli artefatti e stima dello scatter in tempo reale per la tomografia computerizzata a raggi X nella metrologia industriale"

2019

Klaus Bergner, Istituto Fraunhofer per l'ottica applicata e l'ingegneria di precisione IOF Jena

Premio per dissertazioni eccezionali
"Analisi risolta nel tempo e nello spazio dell'interazione di intensi impulsi laser ultracorti con i vetri"

2019

Henrik Sprankel, università tecnica dell'Assia centrale

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Indagine sulle variabili d'influenza su deviazione della misura della lunghezza nella misurazione delle coordinate con tomografia computerizzata a raggi X"

2020

Silvan Othmar Ammann e Gilson Orlando, Interstate University of Applied Sciences Buchs (NTB)

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Istituto Fraunhofer per l'ottica applicata e l'ingegneria di precisione IOF Jena

Premio per dissertazioni eccezionali
"Propagazione della luce su misura mediante reticoli di fibre a lungo periodo scritti con impulsi a femtosecondi"

2020

Martin Heusinger, Università Friedrich Schiller di Jena (Facoltà di Fisica e Astronomia)

Premio per tesi eccellenti
"Indagini sulla luce diffusa deterministica e stocastica in reticoli di diffrazione binari altamente efficienti"

2020

Julian Wittmann, Università di Scienze Applicate di Deggendorf

Premio per l'eccellente tesi di Master
"Determinazione di un modello 3D del volume interno delle scarpe con l'aiuto di dati di tomografia computerizzata"

2021

Patrick Steidl, università tecnica dell'Assia centrale

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Contributi a sviluppo di un rilevatore di raggi X per macchine di misura a coordinate con tomografia computerizzata a raggi X"

2021

Thomas Siefke, Università Friedrich Schiller di Jena

Premio per tesi eccezionali
"sviluppo di polarizzatori a griglia metallica per applicazioni nell'ultravioletto alla gamma spettrale ultravioletta del vuoto"

2021

Roy Seitz, OST Università di Scienze Applicate della Svizzera orientale

Premio per l'eccezionale tesi di Master
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Università di Tecnologia di Dresda

Premio per tesi eccezionali
"Correzione adattiva del fronte d'onda ottico utilizzando la stella guida di Fresnel e un ciclo di controllo ibrido implementato su un system-on-chip programmabile in campo"

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