Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Integrazione dell'elaborazione delle immagini nei proiettori di profili"

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"sviluppo di una telecamera CCD ad alta risoluzione con risoluzione programmabile "

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Rappresentazione generalizzata del comportamento dei getti liberi isotermici"

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Sistemi di misurazione della trasformazione con valutazione delle strutture dei codici a barre per la misurazione assoluta del percorso e dell'angolo"

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Interferometria a doppio heteroyn per la misurazione di profili e distanze su superfici otticamente ruvide"

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Linee guida di forma per il reverse engineering estrazione di bordi e linee di fuga del raggio da serie di punti di misurazione 3D non strutturati"

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"L'interferometro virtuale – Ottimizzazione basata sul modello"

Premio speciale
"Close-range photogrammetry"

Premi speciali per il 50° anniversario di Werth Messtechnik GmbH

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Pose Estimation Revisited"

Dr.-Ing. Siegfried Werth Premio "Fotogrammetria a riflessione raster per misurazione superfici riflettenti"

Premio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Metodi adattivi per la valutazione di superfici strutturate"

- Borsa di studio per il dottorato -

Premio della Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth per tesi di master o di diploma eccezionali
"Resolution increase in optical scanning microscopes with the aid of an image-inverting interferometer"

Premio della Fondazione Dr.-Ing. Siegfried Werth per tesi eccellenti
"Mosaic Grating Compressor for Femtosecond Laser Pulses of High energia"

Premio per l'eccezionale progetto di ricerca degli studenti
"Convalida di una simulazione dell'incertezza di misura per la tomografia computerizzata a raggi X"

Premio per l'eccellente tesi di diploma
"sviluppo dell'ottica di illuminazione di una microstrip di proiezione"

Premio per tesi eccellenti
"Progettazione, realizzazione e caratterizzazione di metamateriali ottici con indice di rifrazione negativo"

Premio per l'eccellente tesi di diploma
"Compressore a reticolo mosaico per impulsi laser a femtosecondi di alto energia"

Premio per tesi eccezionali
"Stima basata sulla simulazione della precisione delle misure con la tomografia computerizzata a raggi X"

Premio per progetti di ricerca di studenti particolarmente buoni
"Concept for misurazione deep blind hole diameters"

Premio per dissertazioni eccezionali
"Estensione dei limiti di applicazione dei sensori per la micro- e nanometrologia mediante l'inseguimento dinamico dei sensori utilizzando l'interazione elettrica near-field risolta in nanometria"

Premio per tesi eccezionali
"Mode control with ultra-short pulse written fiber Bragg gratings"

Premio per l'eccellente tesi di Master
"sviluppo di un sistema di tomografia a coerenza ottica (OCT) sensibile alla polarizzazione per la misurazione in tempo reale di materiali semitrasparenti"

Premio per tesi eccezionali
"Indagini sull'assegnazione di punti basati sulla correlazione nella misurazione stereofotogrammetrica di oggetti 3D utilizzando sequenze di illuminazione strutturata"

Premio per tesi eccezionali
"Estrazione di superfici controllata e adattata al compito da dati di tomografia computerizzata 3D"

Premio per tesi eccezionali
"Determinazione dei contributi di incertezza nelle misure di tomografia computerizzata medica per la chirurgia navigata basata sulle immagini"

Premio per tesi eccezionali
"Microscopia ultravioletta estrema ad alta risoluzione"

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Indagine sulle proprietà dei filtri su fiere con la tomografia computerizzata industriale in confronto con i sistemi di misurazione tattile"

Premio per tesi eccellenti
"Tomografia a rifrazione della luce per misure non invasive di ultrasuoni in vari mezzi

Premio per tesi eccellenti
"Strategie di misurazione e valutazione per la valutazione basata su modelli delle proprietà funzionali delle superfici microstrutturate"

Premio per l'eccellente tesi di Master
"Indagini sull'effetto di varie variabili di influenza sulle misure di tomografia computerizzata dimensionale"

Premio per tesi eccezionali
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"costruzione e costruzione di un sistema CT modulare per applicazioni micro e sub-µ"

Premio per tesi di laurea eccellenti
"Deflettometria in trasmissione – Un nuovo metodo di misurazione per rilevare la geometria delle ottiche refrattive asferiche"

Premio per tesi eccezionali
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses"

Premio per tesi eccezionali
"Misurazione di forma 3D ad alta velocità utilizzando modelli sinusoidali aperiodici"

Premio per tesi eccellenti
"Sensori laser interferometrici per la misurazione tridimensionale e in situ della forma di corpi rotanti"

Premio per dissertazioni eccellenti
"Generazione di coppie di fotoni in guide d'onda di cristallo fotonico

Premio per tesi eccezionali
"Correzione degli artefatti e stima dello scatter in tempo reale per la tomografia computerizzata a raggi X nella metrologia industriale"

Premio per dissertazioni eccezionali
"Analisi risolta nel tempo e nello spazio dell'interazione di intensi impulsi laser ultracorti con i vetri"

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Indagine sulle variabili d'influenza su deviazione della misura della lunghezza nella misurazione delle coordinate con tomografia computerizzata a raggi X"

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

Premio per dissertazioni eccezionali
"Propagazione della luce su misura mediante reticoli di fibre a lungo periodo scritti con impulsi a femtosecondi"

Premio per tesi eccellenti
"Indagini sulla luce diffusa deterministica e stocastica in reticoli di diffrazione binari altamente efficienti"

Premio per l'eccellente tesi di Master
"Determinazione di un modello 3D del volume interno delle scarpe con l'aiuto di dati di tomografia computerizzata"

Premio per tesi di laurea particolarmente buone
"Contributi a sviluppo di un rilevatore di raggi X per macchine di misura a coordinate con tomografia computerizzata a raggi X"

Premio per tesi eccezionali
"sviluppo di polarizzatori a griglia metallica per applicazioni nell'ultravioletto alla gamma spettrale ultravioletta del vuoto"

Premio per l'eccezionale tesi di Master
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

Premio per tesi eccezionali
"Correzione adattiva del fronte d'onda ottico utilizzando la stella guida di Fresnel e un ciclo di controllo ibrido implementato su un system-on-chip programmabile in campo"

Premio per la migliore tesi di laurea
"sviluppo di polarizzatori a griglia metallica per applicazioni nell'intervallo spettrale dall'ultravioletto al vuoto ultravioletto"

Premio per tesi di laurea particolarmente valide
"Investigation of generative models for defect segmentation on fine blanked parts"

Premio per tesi di laurea particolarmente valide
"Full-Arch-Scanner: metodo per la misurazione e la modellazione di file di denti".

Premio per l'eccellente tesi di laurea
"Ottimizzazione delle proprietà ottiche dei reticoli di diffrazione con taglio a diamante con molteplici gradi di libertà, minimizzando la cinematica della macchina".

Premio per l'eccellente tesi di laurea
"Misurazione rapida e accurata di stampi 3D mediante proiezione di modelli e imaging stereo nell'infrarosso termico".

Premio per la tesi di laurea eccezionale
"Tomografia ottica tridimensionale della rotazione delle cellule basata sull'apprendimento e imaging quantitativo di fase con fibre multicore".

Premio per l'eccellente tesi di laurea
"Tomografia multiposizionale a raggi X per evitare e ridurre gli artefatti dell'immagine".

Premio per l'eccellente tesi di laurea
"Nuovi metodi per la riduzione delle deviazioni sistematiche e statistiche delle misure e per l'ottimizzazione della risoluzione spaziale nella tomografia computerizzata a raggi X".