Sensore Werth Chromatic Focus Line CFL

Sensore cromatico lineare ad alta accuratezza per misure veloci di superfici

Grazie al sensore Chromatic Focus Line (CFL), geometrie complete del pezzo sono acquisite velocemente. Il sensore Chromatic Focus Line misura componenti con superfici a riflessione diffusa, altamente riflettenti o trasparenti cos’ come superfici ad elevate inclinazione. Componenti di precisione e micro-geometrie sono misurate ad alta velocità con una precisione ineguagliabile. Il sensore è impiegabile con superfici altamente riflettenti o trasparenti, come ad esempio stampi ed utensili in carburo o diamante, ma anche con superfici plastiche a riflessione diffusa. L’elevata densità di punti consente di determinare la topografia di un’ampia gamma di superfici, come ad esempio componenti meccanici di precisione. La misura della coplanarità di array di LED è un’altra tipica applicazione del sensore CFP nel settore della tecnologia dei semiconduttori.