De belangrijkste geometrische eigenschap is de vlakheid van het gehele wafer-oppervlak.
Wafers worden ook geïnspecteerd op insluitsels en beschadigingen aan het oppervlak. De eisen aan de meetsnelheid zijn soms zeer hoog voor procesbewaking.
-
Toepassingen
- 3D vrije vorm werkstukken
- Geëxtrudeerde werkstukken
- Matrijzen
- Halfgeleiderwerkstukken
- Lithografische structuren
- Metaal-kunststof composiet werkstukken
- Prismatische werkstukken
- Gestanste en gebogen onderdelen
- Verpakking
- As-naaf verbindingen
- Assen en assen
- Werkstukken met microkenmerken
- Werkstukken met optisch functionele oppervlakken
- Gereedschap met geometrisch bepaalde snijkanten
- Gereedschap met geometrisch onbepaalde snijkanten
- Versnellingen
- Cilindrische werkstukken
- Industrieën
- Producten
-
Dienst
- Diensten voor programmering
- Analyse van de geschiktheid van instrumenten, geschiktheid van meetprocessen en traceerbaarheid
- Meetdiensten met multisensortechnologie of computertomografie
- Reparatie
- Onderhoud
- Kalibratie
- Montage, verhuizing en inbedrijfstelling
- Aanpassingen en updates
- Cursussen
- Downloads
- Over Werth
- Carrière
- Stichting
- Publicaties
- Downloads
