Zasada pomiaru chromatycznego zapewnia niskie odchylenia pomiarowe i wysoki stopień niezależności od właściwości powierzchni. Podczas skanowania w krótkim czasie pozyskiwanych jest wiele punktów pomiarowych. Skutkuje to szerokim zakresem zastosowań, nawet przy wysokich wymaganiach dotyczących niepewności pomiaru i czasu pomiaru. Można mierzyć ściśle tolerowane wymiary, jak również kształt i chropowatość.
-
Aplikacje
- Trójwymiarowe elementy o dowolnym kształcie
- Elementy wytłaczane
- Formy
- Elementy półprzewodnikowe
- Struktury litograficzne
- Elementy z kompozytu metalowo-plastycznego
- Elementy pryzmatyczne
- Części tłoczone i gięte
- Opakowanie
- Połączenia wał-piasta
- Wały i osie
- Przedmioty z mikrośladami
- Przedmioty obrabiane z optycznymi powierzchniami funkcyjnymi
- Narzędzia o geometrycznie określonych krawędziach skrawających
- Narzędzia o geometrycznie nieokreślonych krawędziach skrawających
- Narzędzia
- Elementy walcowe
- Branże
- Produkty
-
Serwis
- Usługi programistyczne
- Analiza możliwości przyrządów, odpowiedniość procesu pomiarowego i identyfikowalność
- Usługi pomiarowe z wykorzystaniem technologii wielosensorowej lub tomografii komputerowej
- Naprawa
- Obsługa techniczna
- Kalibracja
- Montaż, przeniesienie i uruchomienie
- Modernizacja i unowocześnianie
- Kursy szkoleniowe
- Pliki do pobrania
- O Werth
- Kariera
- Fundacja
- Publikacje
- Do pobrania
