dowiedz się więcej

TomoScope® S FOV / S / S Plus

Przemysłowa tomografia komputerowa (CT) do pomiaru dużych elementów

Zalety

Najwyższa dokładność w swojej klasie urządzeń i kompaktowe wymiary zewnętrzne charakteryzują Werth TomoScope® S. Urządzenie jest dostępne w trzech wersjach z objętością pomiarową dostosowaną do danego zadania. Dzięki dużemu zakresowi pomiarowemu i wysokiemu napięciu lampy można mierzyć nawet duże obiekty. Dostępne lampy rentgenowskie z tarczą transmisyjną oferują bardzo małą plamkę ogniskową nawet przy dużej mocy lampy, a tym samym maksymalną rozdzielczość przy dużej prędkości pomiaru, nawet w przypadku niewspółpracujących elementów. Obszary zastosowań to przedmioty o dużej gęstości (aluminium, stal, tytan, elastomery, hybrydowe tworzywa sztuczne (np. wzmocnione włóknem szklanym), ceramika, materiały wielomateriałowe (np. złącza), zespoły).

Aby obejrzeć ten film, zaakceptuj opcję "Inne" w ustawieniach. Dalsze zalety

Optyczna pomoc w pozycjonowaniu przedmiotu obrabianego dla łatwego pozycjonowania obiektów pomiarowych
Ze względu na dokładność osiąganą w procesie subvoxelingu i wysoką gęstość punktów pomiarowych, technologia ta jest również idealna do korygowania narzędzi do formowania wtryskowego.
Projekt i konstrukcja wszystkich urządzeń TomoScope® są zgodne z urządzeniami zapewniającymi pełną ochronę zgodnie z rozporządzeniem w sprawie ochrony przed promieniowaniem.
System wymiany detali może być zintegrowany z obudową urządzenia, a współrzędnościowa maszyna pomiarowa TomoScope® może być używana w sposób ciągły i automatyczny w nocy i w weekendy.
Precyzyjne pomiary 3D nawet podczas produkcji lub przyjmowania towarów dzięki opcjonalnej aktywnej kontroli klimatu urządzenia
Standardowa kalibracja zgodna z VDI 2617 zapewnia wiarygodne i identyfikowalne wyniki pomiarów, opcjonalnie z certyfikatem DAkkS

Dane techniczne

Wielosensorowa współrzędnościowa maszyna pomiarowa 3D CNC z czujnikami tomografii komputerowej

Maks. Wymiary przedmiotu obrabianego D = 500 mm / L = 686 mm (w zależności od współczynnika kształtu przedmiotu obrabianego)

Dopuszczalne odchylenie pomiaru długości do 4,0 µm

Czujniki i akcesoria

Filtr