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Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth

Promoção do trabalho científico no domínio da metrologia dimensional sem contacto

Após a morte da Dra.-Ing. Siegfried Werth, a sua viúva, Sra. C. H. Maria Werth, criou a Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth em 1987, que foi transformada numa fundação de caridade legalmente capaz em 1995.

 
Apresentação

Fundação em memória dos desenvolvimentos pioneiros e do trabalho de vida da Dra. -Ing. Siegfried Werth

A Dr.-Ing. Siegfried Werth fundou uma empresa de aparelhos e engenharia mecânica em Dusseldorf em 1951, que fabricava instrumentos de medição e projectores de perfil de medição. Em 1958, a empresa mudou-se para Giessen, onde foi construída uma nova unidade de produção. Isto formou a base para a actual Werth Messtechnik GmbH, que nesta tradição é um líder internacional no campo da tecnologia de medição coordenada com óptica, sondas, tomografia computorizada e tecnologia multi-sensor.

O objectivo da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth é promover e financiar o trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contacto. O objectivo da fundação é cumprido em particular através da atribuição de prémios a trabalhos científicos de jovens cientistas após terem obtido o seu primeiro diploma académico no campo da metrologia industrial ou campos afins, ou através da adjudicação de contratos de investigação, incluindo projectos de doutoramento, a jovens cientistas talentosos.

O único órgão da Fundação é o Conselho de Curadores. É composto por quatro curadores honorários, entre os quais o Presidente do Conselho de Curadores é eleito para um mandato de 5 anos e que representa a Fundação juntamente com outro membro em todas as questões judiciais e extrajudiciais. A sede social e endereço da Fundação é Siemensstr. 19 em 35394 Giessen.

Apresentação - Fundação em memória dos desenvolvimentos pioneiros e do trabalho de vida da Dra. -Ing. Siegfried Werth
 
Curriculum vitae

Desenvolvedor e empresário de tecnologia de medição

A Dr.-Ing. Siegfried Werth fundou uma empresa de construção de aparelhos e máquinas, que mais tarde se tornou Werth Messtechnik GmbH, e tornou possível a automatização das medições ópticas com o desenvolvimento do primeiro sensor óptico para projectores de medição.

Curriculum vitae - Desenvolvedor e empresário de tecnologia de medição
1907

Nascido em Berlim

1926

Abitur em Berlim

1931

Estudos de engenharia mecânica na Technische Hochschule Berlin

1931-1936

Assistente na Universidade Técnica de Berlim, no Instituto de Máquinas-Ferramenta e Gestão de Fábricas

1937

Doutoramento na Universidade Técnica de Berlim

1936-1937

Engenheiro da fábrica da BMW em Eisenach

1937-1939

Assistente de operação na Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) em Nuremberga

1939-1941

Director da fábrica da MAN em Augsburg e da fábrica de motores em Hamburgo

1941

Manual escrito para trabalhadores de máquinas

1948

Engenheiro independente em Düsseldorf

1951

Fundação da Werth Apparate- und Maschinenbaufirma em Düsseldorf, concepção e fabrico de instrumentos de medição para a indústria do arame

1951

Dispositivo de medição do molde de desenho Werth Panohol

1953

Desenvolvimento de projector de perfil

1955

Werth Record – projector de perfil ergonómico com trajecto de feixe integrado

1958

Nova localização da empresa em Giessen

1977

Werth Tastauge– Primeiro sensor de fibra óptica para medição e projectores de perfil

1979

Mudança de nome para Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – primeiro projector de medição controlado por CNC

1982

Falecido em Giessen

 
Notícias

Prémio Siegfried Werth da Dr.-Ing

Durante uma cerimónia nas instalações de Werth Messtechnik GmbH em Giessen em Fevereiro, a Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth atribuiu um prémio a um trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contacto. O vencedor do prémio é o Sr. Patrick Steidl por uma excelente tese de licenciatura na Universidade Técnica de Hesse Central, que trata do desenvolvimento de novas tecnologias de sensores para tomografia computorizada de raios X. Como as Werth Technology Days, durante as quais a cerimónia de entrega de prémios tem normalmente lugar, tiveram de ser canceladas na Primavera de 2021 devido a regulamentos legais, a cerimónia de entrega de prémios teve lugar a uma escala menor.

Notícias - Prémio Siegfried Werth da Dr.-Ing
 
Vencedores e beneficiários do prémio

Trabalho científico notável no campo da metrologia dimensional sem contacto

De acordo com o objectivo da fundação, os seguintes jovens cientistas foram premiados pela Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth ou o trabalho científico foi apoiado por bolsas de estudo:

Vencedores e beneficiários do prémio - Trabalho científico notável no campo da metrologia dimensional sem contacto
1988

Eng. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Integração do processamento de imagem em projectores de perfil"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU Munique

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Desenvolvimento de uma câmara CCD de alta resolução com resolução programável"

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Universidade de GHS Essen

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Generalised representation of the behaviour of isothermal free jets"

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Transformation measuring systems with evaluation of barcode structures for absolute path and angle measurement"

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Double heteroyn interferometry for profile and distance measurement on optically rough surfaces"

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Ralph Peter Knorpp, Instituto Fraunhofer Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Shape guidelines for reverse engineering Extraction of edges and radius run-out lines from unstructured 3D measurement point sets"

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Instituto Fraunhofer Aachen

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"The Virtual Interferometer – Model-based Optimisation"

2000

Professor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Universidade de Ciências Aplicadas de Odenburg

Prémio especial
"Fotogrametria a curta distância"

2001

Engº Simon Winkelbach, Universidade Técnica de Braunschweig

Eng. Marcus Jacob, Universidade de Ciências Aplicadas de Jena

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Colégio Técnico de Buchs, Suíça

Prémios especiais para o 50º aniversário de Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Pose Estimation Revisited"

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Universidade Técnica de Braunschweig

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth "Scanning Reflection Photogrammetry for the Measurement of Reflecting Surfaces"

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Prémio Dr.-Ing. Siegfried Werth
"Adaptive methods for evaluating textured surfaces"

2008

Eng. Andreas Gläser, Universidade de Ciências Aplicadas da Saxónia Ocidental Zwickau

- Bolsa de Doutoramento -

2010

Dipl.-Phys.Daniel Weigel, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth para as teses de mestrado ou diploma
"Resolution increase in optical scanning microscopes with the aid of an image-inverting interferometer"

2011

Dr Marco Hornung, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth para dissertações de destaque
"Mosaic grating compressor para pulsos laser de femtosegundo de alta energia"

2012

Florian Flad, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prémio para projecto de investigação estudantil excepcional
"Validation of a measurement uncertainty simulation for X-ray computed tomography"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Braunschweig Universidade de Tecnologia

Prémio para tese de diploma de excelência
"Development of the illumination optics of a microstrip projection unit"

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Design, realização e caracterização de metamateriais ópticos com índice de refracção negativo"

2012

Martin Peterek, Universidade Técnica Reno-Westphalian de Aachen

Prémio para tese de diploma de excelência
"Mosaic grating compressor para pulsos laser de femtosegundo de alta energia"

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prémio para dissertações de destaque
"Simulation-based estimation of the accuracy of measurements with X-ray computed tomography"

2013

Sra. Johanna Witte

Prémio para projectos de investigação particularmente bons para estudantes
"Concept for measuring deep blind hole diameters"

2013

Carl Alexander Schuler, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prémio para dissertações de destaque
"Extension of the application limits of sensors for micro and nanometrology by dynamic sensor tracking using nanometre-resolved electrical near-field interaction"

2013

Jens Thomas, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Mode control with ultra-short pulse written fibre Bragg gratings"

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aachen

Prémio para tese de mestrado
"Desenvolvimento de um sistema de tomografia de coerência óptica sensível à polarização (OCT) para medição em tempo real de materiais semitransparentes"

2014

Marcus Große, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Investigations into correlation-based point assignment in stereophotogrammetric 3D object measurement using sequences of structured illumination"

2014

Julia Kroll, Instituto Fraunhofer de Engenharia de Fabrico e Automação IPA, Estugarda

Prémio para dissertações de destaque
"Task-adapted, controlled surface extraction from 3D computed tomography data"

2014

Sebastian Pollmanns, Presidente do Laboratório de Metrologia de Produção e Gestão de Qualidade de Máquinas-Ferramenta WZL, RWTH Universidade de Aachen

Prémio para dissertações de destaque
"Determinação das contribuições de incerteza nas medições de tomografia computorizada médica para a cirurgia de navegação por imagem"

2015

Michael Zürch, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"HighResolution Extreme Ultraviolet Microscopy"

2015

Mario Salzinger, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prémio para teses de licenciatura particularmente boas
"Investigação das propriedades do filtro ao medir com tomografia computorizada industrial em comparação com os sistemas de medição táctil"

2015

Lizhuo Chen, Friedrich Alexander University Erlangen-Nuremberga

Prémio para dissertações de destaque
"Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media

2015

Wito Hartmann, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prémio para dissertações de destaque
"Estratégias de medição e avaliação para avaliação das propriedades funcionais de superfícies microestruturadas baseadas em modelos"

2016

Ruedi Jung, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prémio de tese de mestrado
"Investigações sobre o efeito de várias variáveis influentes nas medições de tomografia computorizada dimensional"

2016

Angela Klein, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

2017

Anton Sigl, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prémio para teses de licenciatura particularmente boas
"Concepção e construção de um sistema modular de CT para micro e subµ aplicações"

2017

Marc Fischer, Universidade Técnica de Braunschweig

Prémio para dissertações de destaque
"Deflectometria na Transmissão – Um novo método de medição para detectar a geometria da óptica refractiva asférica"

2017

Arno Klenke, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses"

2018

Stefan Heist, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Medição de formas 3D a alta velocidade usando padrões senoidais aperiódicos"

2018

Robert Kuschmierz, Universidade de Tecnologia de Dresden

Prémio para dissertações de destaque
"Sensores laser interferométricos para medição tridimensional, in-situ de corpos rotativos"

2019

Sina Saravi, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Photon-pair generation in photonic crystal waveguides

2019

Joscha Maier, Centro Alemão de Investigação do Cancro de Heidelberg

Prémio para dissertações de destaque
"Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology"

2019

Klaus Bergner, Instituto Fraunhofer de Óptica Aplicada e Engenharia de Precisão IOF Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Time- and spatially-resolved analysis of the interaction of intense ultrasashort laser pulses with glasses"

2019

Henrik Sprankel, Universidade Técnica de Hesse Central

Prémio para teses de licenciatura particularmente boas
"Investigação de variáveis influentes sobre o desvio da medição do comprimento na medição de coordenadas com tomografia computorizada de raios X"

2020

Silvan Othmar Ammann e Gilson Orlando, Interstate University of Applied Sciences Buchs (NTB)

Prémio para teses de licenciatura particularmente boas
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF Jena

Prémio para as dissertações de destaque
"Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fibre gratings"

2020

Martin Heusinger, Universidade Friedrich Schiller Jena (Faculdade de Física e Astronomia)

Prémio para dissertações de destaque
"Investigations on deterministic and stochastic scattered light in highly efficient binary diffraction gratings"

2020

Julian Wittmann, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prémio para a tese de mestrado
"Determinar um modelo 3D do volume interior dos sapatos com a ajuda de dados de tomografia computorizada"

2021

Patrick Steidl, Universidade Técnica de Hesse Central

Prémio para teses de licenciatura particularmente boas
"Contribuições para o desenvolvimento de um detector de raios X para máquinas de medição de coordenadas com tomografia computorizada de raios X"

2021

Thomas Siefke, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prémio para dissertações de destaque
"Desenvolvimento de polarizadores de rede de fios para aplicações na gama espectral ultravioleta a vácuo ultravioleta"

2021

Roy Seitz, OST Universidade de Ciências Aplicadas da Suíça Oriental

Prémio para a tese de mestrado
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Universidade de Tecnologia de Dresden

Prémio para dissertações de destaque
"Adaptive optical wavefront correction using the Fresnel guide star and a hybrid control loop implemented on a field-programmable system-on-chip"

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