Dia da Tecnologia na sede em Giessen

Com participantes de toda a Alemanha, o Dia da Tecnologia de Giessen, em 4 de dezembro, foi, como sempre, muito participado. Os relatórios de utilizadores da indústria sobre os temas "Processamento rápido e eficiente utilizando a TC" e "Utilização da tomografia na Faber-Castell" foram apresentados por Thomas Lender, da toolcraft AG, e Sebastian Spörl, da Faber-Castell Cosmetics, respetivamente. A Prof. Dra. Teresa Werner, da Universidade de Ciências Aplicadas de Zwickau, apresentou informações sobre "As novas tolerâncias gerais de acordo com a ISO 22081 e a DIN 2769". O Diretor Geral da Werth, Dr.-Ing. habil. Ralf Christoph deu as boas-vindas aos convidados e apresentou as tendências actuais da tecnologia de medição por coordenadas.

Em 1987, Maria Werth, a viúva do fundador da empresa, criou a Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth para promover e financiar o trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contacto. Este ano, por sugestão do Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Czarske da TU Dresden, foram distinguidas a tese de bacharelato de Jie Zhang e a dissertação do Dr. Julian Lich. O discurso de louvor foi proferido pelo Dr. Robert Kuschmierz.

O programa foi completado com visitas guiadas e a resolução de tarefas de medição individuais por especialistas da Werth. – A série de eventos para o próximo ano, com dias de tecnologia na Alemanha, Áustria e Suíça, já está a ser planeada.