WinWerth® Correzioni di artefatti – Le innovazioni in sintesi

La correzione empirica degli artefatti EAK è un metodo collaudato per ridurre gli artefatti causati dalla tempra del fascio radiazione diffusa. Per oggetti di misura costituiti da un materiale e da una densità, la relazione tra l'attenuazione di raggi X da parte di oggetto di misurazione e la lunghezza irradiata può essere descritta da caratteristica. Questa correlazione viene determinata sperimentalmente su un campione di materiale calibrato o sul pezzo stesso. caratteristica può essere utilizzato in un successivo misurazione per ridurre notevolmente l'indurimento del fascio e alcuni artefatti da fascio diffuso. Questo metodo si è dimostrato valido per molti anni, ma raggiunge i suoi limiti per alcuni compiti. I metodi più recenti descritti di seguito consentono di ridurre in modo mirato gli artefatti causati da vari effetti fisici.

Pezzi grandi e densi

La radiazione diffusa generata nel sito oggetto di misurazione causa la misurazione di valori di intensità falsati, che generano artefatti nel volume. Questi artefatti da radiazione diffusa vengono simulati utilizzando un volume proveniente dalla misura di un pezzo master e quindi utilizzati per correggere il volume.

La radiazione diffusa è causata da diffusione fotoni di raggi X nel pezzo in lavorazione a causa dell'effetto Compton. Ciò si verifica in particolare nel tomografia caso di oggetti relativamente grandi fatti di materiali densi che sono difficili da radiografare. A bassi ingrandimenti o bassi distanza dell'oggetto da misurare rispetto al rilevatore, viene rilevata una percentuale maggiore della radiazione diffusa generata. Il principale campo di applicazione della correzione degli artefatti da fascio diffuso è quindi la riduzione delle deviazioni sistematiche di misura quando misurazione si misurano oggetti di grandi dimensioni realizzati con materiali altamente attenuanti, ad esempio grandi pale di turbine, blocchi motore e alloggiamenti di cambi.

Angoli del fascio conico di grandi dimensioni

Il sistema tomografia con un fascio di raggi X a forma di cono consente di ridurre i tempi di misura grazie al rilevamento simultaneo di ampie aree del pezzo. Tuttavia, con l'aumentare dell'angolo del fascio conico, la scansione del pezzo in esame risulta più scarsa. Gli artefatti del fascio conico che ne derivano possono essere simulati sulla geometria del target mediante un processo brevettato e utilizzati per correggere il volume di misura.

La correzione può essere calcolata mediante simulazione sul modello CAD o su una misura del pezzo master nuvola di punti del pezzo da lavorare. Una volta calcolata, la correzione può essere applicata alle nuvole di punti dello stesso pezzo o di altri pezzi dello stesso tipo, ad esempio per una misurazione in serie. È possibile correggere anche i volumi. La correzione viene calcolata sulla base di una simulazione all'indirizzo nuvola di punti del pezzo misurato.

Utilizzando misurazione con un angolo del fascio conico più ampio, è possibile ridurre il tempo di misura con la stessa ripetibilità o migliorare la ripetibilità con lo stesso tempo di misura. Ciò si ottiene utilizzando una parte maggiore dell'energia del fascio disponibile, ad esempio riducendo la distanza fuoco-rivelatore (FDD) a parità di scala di imaging. Gli artefatti del fascio conico e le conseguenti deviazioni sistematiche della misura possono essere notevolmente ridotti utilizzando correzione dell'artefatto del fascio di cono.

Artefatti anulari in misurazione di materiali a bassa attenuazione

La sensibilità determina la conversione di raggi X in un'intensità misurata. A causa delle differenze di sensibilità non completamente corrette, la stessa intensità di radiazione porta a valori di grigio più scuri o più chiari per due pixel vicini. La retroproiezione di queste differenze in tutte le posizioni di rotazione produce artefatti ad anello nel volume ricostruito.

Con la nuova correzione degli artefatti ad anello di WinWerth®, le informazioni contenute nelle immagini di intensità sulle differenze di sensibilità tra i pixel vengono determinate dall'attuale misurazione e utilizzate per la correzione fine delle immagini. Gli artefatti anulari sono notevolmente ridotti nel volume ricostruito. Questi sono più significativi con pezzi debolmente assorbenti. Questo metodo di correzione è quindi particolarmente utile quando si misurano pezzi con una bassa capacità di attenuazione, come microingranaggi in plastica, campioni di materiale espanso o pacchetti di lenti per smartphone.