Les épaisseurs des revêtements qui peuvent être pénétrés par la lumière du domaine visible à l'infrarouge peuvent être mesurées avec le capteur ponctuel Chromatic Focus Point, le capteur linéaire Chromatic Focus Line et le multi-capteur Chromatic Focus Zoom (tête de palpage optique brevetée avec traitement d'image intégré et capteur de distance chromatique). Avec les capteurs ponctuels CFP et CFZ, l'épaisseur du revêtement peut être mesurée de manière spécifique à différents endroits de la pièce ou sous forme de balayage de contour avec une densité de points élevée sur toute la surface de la pièce. Le palpage linéaire du CFL permet d'obtenir des avantages en termes de vitesse de mesure par rapport au CFP et au CFZ. Le volume entre les bords du matériau peut également être calculé.
Avec le principe interférométrique, la plage d'épaisseur de revêtement mesurable est comprise entre 5 μm et 150 μm lorsqu'on utilise la lumière visible, et entre 30 μm et 10500 μm lorsqu'on utilise le rayonnement infrarouge. Dans le cas de la mesure chromatique, outre les mesures "dans l'image" dans la plage de mesure du capteur, c'est-à-dire sans déplacement des axes de la machine, la plage de mesure peut être élargie par des mesures "sur l'image" avec un réajustement correspondant des axes de la machine. Les résultats de la mesure dépendent de l'indice de réfraction des matériaux, qui doit donc être connu très précisément. Une autre possibilité est le calibrage direct de l'épaisseur du revêtement en utilisant d'autres méthodes métrologiques telles que le Werth Fiber Probe® ou la tomographie par ordinateur.
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