WIP是一种非接触式的光纤传感器,用于高精度测量几何形状和粗糙度。探头的几何形状可以根据探测工件表面所需的出口角度而单独调整。由于探头尺寸小,WIP特别适用于检测小的、难以接近的和深的几何形状,因此也是Werth在测量微观几何形状方面的特殊专长的一部分。
WIP是一种非接触式的光纤传感器,用于高精度测量几何形状和粗糙度。探头的几何形状可以根据探测工件表面所需的出口角度而单独调整。由于探头尺寸小,WIP特别适用于检测小的、难以接近的和深的几何形状,因此也是Werth在测量微观几何形状方面的特殊专长的一部分。
光学(短相干干涉测量法)
300 µm
允许的探测偏差达0,2 µm
用一个超级发光二极管a)和一个通过光纤耦合器b)连接的测量探头c),测量在探头出口表面d)和工件表面e)反射的光的时间差信息。干涉仪(成像光学元件f)、分光镜g)、反射镜h)和i)以及圆柱形透镜j)从干涉仪(成像光学元件f)、分光镜g)、反射镜h)和i)以及圆柱形透镜j)将在探头出口表面d)和工件表面e)反射的光的移动时间差的信息投射到线扫描相机k),并由此确定距离。