与其他传感器相比，使用图像处理的测量通常会导致更短的测量时间，因此可用于广泛的应用。许多测量点被快速或甚至同时捕获。
光学-侧面
视野 0.065 mm x 0.05 mm 到 225 mm x 190 mm
允许的探测偏差达02 µm
在照相机a)中，借助于成像光学器件b)创建被测物c)的图像，这里采用透射光照明d)。
操作带有各种传感器的设备，以及评估体积数据和点云......了解更多
从最初的调试、培训和维护到改装的服务 ...了解更多
