Día de la Tecnología en giessen

Las Jornadas Tecnológicas Werth se celebran cada año en lugares seleccionados de los países de habla alemana en estrecha colaboración con universidades, institutos y socios de cooperación de la industria. La última edición, celebrada en giessen, contó con una nutrida asistencia. Las presentaciones de clientes seleccionados versaron sobre el uso de nuestros sistemas de medición de coordenadas TomoScope® en la investigación de la geobiodiversidad, la garantía de calidad de moldeo por inyección pequeñas piezas y la reingeniería de implantes dentales.
El Prof. Dr. Gabriel Herl, del Instituto Tecnológico de Deggendorf, y el Dr. Philip Trapp, del Centro Alemán de Investigación Oncológica de Heidelberg, fueron galardonados con el Premio Dr. Siegfried Werth por sus destacadas disertaciones en el campo sobre la medición dimensional sin contacto metrología. Las visitas a la empresa, durante las cuales se explicaron el montaje y la puesta en marcha de los dispositivos de medición, volvieron a suscitar gran interés.