Dzień Technologii w Giessen

Werth Technology Days odbywają się co roku w wybranych lokalizacjach w krajach niemieckojęzycznych w ścisłej współpracy z uniwersytetami, instytutami i partnerami z przemysłu. Ostatnie wydarzenie w Giessen cieszyło się dużym zainteresowaniem. Prezentacje wybranych klientów dotyczyły wykorzystania naszych współrzędnościowych systemów pomiarowych TomoScope® w badaniach nad georóżnorodnością, zapewnieniu jakości małych części formowanych wtryskowo oraz przeprojektowaniu implantów dentystycznych.
Prof. Gabriel Herl z Deggendorf Institute of Technology i dr Philip Trapp z Niemieckiego Centrum Badań nad Rakiem w Heidelbergu otrzymali nagrodę im. dr Siegfrieda Wertha za wybitne rozprawy w dziedzinie bezkontaktowej metrologii wymiarowej. Wycieczki po firmie, podczas których wyjaśniano montaż i uruchomienie urządzeń pomiarowych, ponownie spotkały się z dużym zainteresowaniem.