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Dr.-Ing. Siegfried Werth Foundation

Promoção do trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contato

Após a morte da Dra.-Ing. Siegfried Werth, sua viúva, a Sra. C. H. Maria Werth, criou a Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth em 1987, que foi transformada em uma fundação beneficente legalmente capaz em 1995.

 
Apresentação

Fundação em memória dos desenvolvimentos pioneiros e do trabalho de vida da Dra. -Ing. Siegfried Werth

A Dra. Ing. Siegfried Werth fundou uma empresa de aparelhos e engenharia mecânica em Düsseldorf em 1951, que fabricava instrumentos de medição e projetores de perfil de medição. Em 1958, a empresa mudou-se para Giessen, onde foi construída uma nova unidade de produção. Isto formou a base da Werth Messtechnik GmbH de hoje, que nesta tradição é líder internacional no campo da tecnologia de medição coordenada com óptica, sondas, tomografia computadorizada e tecnologia multissensor.

O objetivo da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth é promover e financiar o trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contato. O objetivo da fundação é cumprido, em particular, através da concessão de prêmios para trabalhos científicos de jovens cientistas após terem obtido seu primeiro diploma acadêmico no campo da metrologia industrial ou campos afins, ou através da concessão de contratos de pesquisa, incluindo projetos de doutorado, a jovens cientistas talentosos.

O único órgão da Fundação é o Conselho de Curadores. Ela consiste em quatro curadores honorários, dentre os quais o Presidente do Conselho de Curadores é eleito para um mandato de 5 anos e que representa a Fundação junto com outro membro em todas as questões judiciais e extrajudiciais. A sede social e endereço da Fundação é Siemensstr. 19 em 35394 Giessen.

Apresentação - Fundação em memória dos desenvolvimentos pioneiros e do trabalho de vida da Dra. -Ing. Siegfried Werth
 
Curriculum vitae

Desenvolvedor e empresário de tecnologia de medição

A Dr.-Ing. Siegfried Werth fundou uma empresa de construção de aparelhos e máquinas, que mais tarde se tornou Werth Messtechnik GmbH, e tornou possível a automação das medições ópticas com o desenvolvimento do primeiro sensor óptico para projetores de medição.

Curriculum vitae - Desenvolvedor e empresário de tecnologia de medição
1907

Nascido em Berlim

1926

Abitur em Berlim

1931

Estudos de engenharia mecânica na Technische Hochschule Berlin

1931-1936

Assistente na Universidade Técnica de Berlim, no Instituto de Máquinas-Ferramenta e Gestão de Fábrica

1937

Doutorado na Universidade Técnica de Berlim

1936-1937

Engenheiro da fábrica da BMW em Eisenach

1937-1939

Assistente operacional na Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) em Nuremberg

1939-1941

Gerente da fábrica da MAN em Augsburg e da fábrica de motores em Hamburgo

1941

Manual escrito para trabalhadores de máquinas

1948

Engenheiro autônomo em Düsseldorf

1951

Fundação da Werth Apparate- und Maschinenbaufirma em Düsseldorf, projeto e fabricação de instrumentos de medição para a indústria de arames

1951

Dispositivo de medição de matrizes de desenho Werth Panohol

1953

Desenvolvimento de projetor de perfil

1955

Werth Record – projetor de perfil ergonômico com trajeto de feixe integrado

1958

Nova localização da empresa em Giessen

1977

Werth Tastauge– Primeiro sensor de fibra ótica para medição e projetores de perfil

1979

Mudança de nome para Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – primeiro projetor de medição controlado por CNC

1982

Falecido em Giessen

 
Notícias

Prêmio Siegfried Werth da Dr.-Ing

Durante uma cerimônia nas instalações da Werth Messtechnik GmbH em Giessen em fevereiro, a Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth concedeu um prêmio a um trabalho científico na área de metrologia dimensional sem contato. O vencedor do prêmio é o Sr. Patrick Steidl por uma excelente tese de bacharelado na Universidade Técnica de Hesse Central, que trata do desenvolvimento de novas tecnologias de sensores para tomografia computadorizada de raios X. Como os Werth Technology Days, durante os quais a cerimônia de premiação normalmente ocorre, tiveram que ser cancelados na primavera de 2021 devido às normas legais, a cerimônia de premiação foi realizada em uma escala menor.

Notícias - Prêmio Siegfried Werth da Dr.-Ing
 
Vencedores e premiados

Excelente trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contato

De acordo com o objetivo da fundação, os seguintes jovens cientistas foram premiados pela Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth ou o trabalho científico foi apoiado por bolsas de estudo:

Vencedores e premiados - Excelente trabalho científico no campo da metrologia dimensional sem contato
1988

Eng. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Integração do processamento de imagem em projetores de perfil"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU Munique

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Development of a high-resolution CCD camera with programmable resolution"

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Universidade de GHS Essen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Generalised representation of the behaviour of isothermal free jets" (Representação generalizada do comportamento dos jatos isotérmicos livres)

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Transformation measuring systems with evaluation of barcode structures for absolute path and angle measurement"

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Double heteroyn interferometry for profile and distance measurement on optically rough surfaces"

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Ralph Peter Knorpp, Instituto Fraunhofer Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Shape guidelines for reverse engineering Extraction of edges and radius run-out lines from unstructured 3D unstructured measurement point sets"

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Instituto Fraunhofer Aachen

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"The Virtual Interferometer – Model-based Optimisation"

2000

Professor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Universidade de Ciências Aplicadas de Odenburg

Prêmio especial
"Fotogrametria a curta distância"

2001

Eng. Simon Winkelbach, Universidade Técnica de Braunschweig

Eng. Marcus Jacob, Jena University of Applied Sciences

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Faculdade Técnica de Buchs, Suíça

Prêmios especiais para o 50º aniversário da Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Pose Estimation Revisited"

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Universidade Técnica de Braunschweig

Prêmio Siegfried Werth Dr.-Ing. "Scanning Reflection Photogrammetry for the Measurement of Reflecting Surfaces"

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prize
"Adaptive methods for evaluating textured surfaces"

2008

Eng. Andreas Gläser, Universidade de Ciências Aplicadas da Saxônia Ocidental Zwickau

- Bolsa de Doutorado -

2010

Dipl.-Phys.Daniel Weigel, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth para teses de mestrado ou diploma
"Aumento da resolução em microscópios de varredura óptica com a ajuda de um interferômetro de inversão de imagem"

2011

Dr Marco Hornung, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio da Fundação Dr.-Ing. Siegfried Werth pelas dissertações de destaque
"Mosaic grating compressor para pulsos laser de femtosegundo de alta energia"

2012

Florian Flad, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberg

Prêmio para o excelente projeto de pesquisa estudantil
"Validação de uma simulação de incerteza de medição para tomografia computadorizada de raios X"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Universidade de Tecnologia de Braunschweig

Prêmio para tese de diploma de destaque
"Desenvolvimento da óptica de iluminação de uma unidade de projeção de microstrip"

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Design, realização e caracterização de metamateriais ópticos com índice de refração negativo"

2012

Martin Peterek, Universidade Técnica Reno-Westphalian de Aachen

Prêmio para tese de diploma de destaque
"Compressor de grade de mosaico para pulsos de laser de femtosegundo de alta energia"

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberg

Prêmio para dissertações de destaque
"Simulation-based estimation of the accuracy of measurements with X-ray computed tomography"

2013

Sra. Johanna Witte

Prêmio para projetos de pesquisa particularmente bons para estudantes
"Conceito para medir diâmetros de furos cegos profundos"

2013

Carl Alexander Schuler, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prêmio para dissertações de destaque
"Extension of the application limits of sensors for micro and nanometrology by dynamic sensor tracking using nanometre-resolved electrical near-field interaction"

2013

Jens Thomas, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Controle de modo com grelhas de Bragg de fibra escrita de pulso ultra-curto"

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aachen

Prêmio para a tese de mestrado
"Desenvolvimento de um sistema de tomografia de coerência óptica sensível à polarização (OCT) para medição em tempo real de materiais semitransparentes"

2014

Marcus Große, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Investigations into correlation-based point assignment in stereophotogrammetric 3D object measurement using sequences of structured illumination"

2014

Julia Kroll, Instituto Fraunhofer de Engenharia de Manufatura e Automação IPA, Stuttgart

Prêmio para dissertações de destaque
"Task-adapted, controlled surface extraction from 3D computed tomography data"

2014

Sebastian Pollmanns, Presidente do Laboratório de Metrologia de Produção e Gestão de Qualidade de Máquinas-Ferramenta WZL, RWTH Universidade de Aachen

Prêmio para dissertações de destaque
"Determinação de contribuições de incerteza em medições de tomografia computadorizada médica para cirurgia de navegação baseada em imagem"

2015

Michael Zürch, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"HighResolution Extreme Ultraviolet Microscopy"

2015

Mario Salzinger, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prêmio para teses de bacharelado particularmente boas
"Investigação das propriedades do filtro ao medir com tomografia computadorizada industrial em comparação com os sistemas de medição táctil"

2015

Lizhuo Chen, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberg

Prêmio para dissertações de destaque
"Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media

2015

Wito Hartmann, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prêmio para dissertações de destaque
"Estratégias de medição e avaliação para avaliação das propriedades funcionais de superfícies microestruturadas baseadas em modelos"

2016

Ruedi Jung, Universidade Friedrich-Alexander Erlangen-Nuremberga

Prêmio para tese de mestrado de destaque
"Investigações sobre o efeito de várias variáveis que influenciam as medidas dimensionais da tomografia computadorizada"

2016

Angela Klein, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

2017

Anton Sigl, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prêmio para teses de bacharelado particularmente boas
"Projeto e construção de um sistema modular de CT para aplicações micro e sub-µ"

2017

Marc Fischer, Universidade Técnica de Braunschweig

Prêmio para dissertações de destaque
"Deflectometria na transmissão – Um novo método de medição para detectar a geometria da óptica refrativa asférica"

2017

Arno Klenke, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combination of ultrashort pulses"

2018

Stefan Heist, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Medição de forma 3D em alta velocidade usando padrões senoidais aperiódicos"

2018

Robert Kuschmierz, Universidade de Tecnologia de Dresden

Prêmio para dissertações de destaque
"Sensores laser interferométricos para medição tridimensional, in-situ de corpos rotativos"

2019

Sina Saravi, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Photon-pair generation in photonic crystal waveguides

2019

Joscha Maier, Centro Alemão de Pesquisa do Câncer de Heidelberg

Prêmio para dissertações de destaque
"Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology"

2019

Klaus Bergner, Instituto Fraunhofer de Óptica Aplicada e Engenharia de Precisão IOF Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Análise temporal e espacialmente resolvida da interação de pulsos laser ultra-rápidos intensos com óculos"

2019

Henrik Sprankel, Universidade Técnica de Hesse Central

Prêmio para teses de bacharelado particularmente boas
"Investigação de variáveis influenciadoras no desvio da medição do comprimento na medição de coordenadas com tomografia computadorizada de raios X"

2020

Silvan Othmar Ammann e Gilson Orlando, Interstate University of Applied Sciences Buchs (NTB)

Prêmio para teses de bacharelado particularmente boas
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fibre gratings"

2020

Martin Heusinger, Friedrich Schiller University Jena (Faculdade de Física e Astronomia)

Prêmio para dissertações de destaque
"Investigations on deterministic and stochastic scattered light in highly efficient binary diffraction gratings"

2020

Julian Wittmann, Universidade de Ciências Aplicadas de Deggendorf

Prêmio pela tese de mestrado
"Determinando um modelo 3D do volume interno de sapatos com a ajuda de dados de tomografia computadorizada"

2021

Patrick Steidl, Universidade Técnica de Hesse Central

Prêmio para teses de bacharelado particularmente boas
"Contribuições para o desenvolvimento de um detector de raios X para máquinas de medição de coordenadas com tomografia computadorizada de raios X"

2021

Thomas Siefke, Universidade Friedrich Schiller Jena

Prêmio para dissertações de destaque
"Desenvolvimento de polarizadores de grade de arame para aplicações na faixa espectral ultravioleta a vácuo ultravioleta"

2021

Roy Seitz, OST Universidade de Ciências Aplicadas do Leste da Suíça

Prêmio para a tese de mestrado
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Universidade de Tecnologia de Dresden

Prêmio para as dissertações de destaque
"Adaptive optical wavefront correction using the Fresnel guide star and a hybrid control loop implemented on a field-programmable system-on-chip"

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