meer weten

Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting

Bevordering van wetenschappelijk werk op het gebied van contactloze dimensionale metrologie

Na de dood van Dr.-Ing. Siegfried Werth richtte zijn weduwe, mevrouw C.H. Maria Werth, in 1987 de Dr.-Ing. Siegfried Werth-Stichting op, die in 1995 werd omgevormd tot een wettelijk bevoegde stichting van algemeen nut.

 
Presentatie

Stichting ter nagedachtenis aan de baanbrekende ontwikkelingen en het levenswerk van Dr.-Ing. Siegfried Werth

Dr.-Ing. Siegfried Werth richtte in 1951 in Düsseldorf een apparaten- en werktuigbouwkundig bedrijf op, dat meetinstrumenten en meetprofielprojectoren vervaardigde. In 1958 verhuisde het bedrijf naar Giessen, waar een nieuwe productiefaciliteit werd gebouwd. Dit vormde de basis voor de huidige Werth Messtechnik GmbH, die in deze traditie een internationale leider is op het gebied van coördinaten meettechniek met optieken, tasters, computertomografie en multi-sensor technologie.

Het doel van de Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting is het bevorderen en financieren van wetenschappelijk werk op het gebied van contactloze dimensionale metrologie. Het doel van de stichting wordt met name verwezenlijkt door het toekennen van prijzen voor wetenschappelijk werk van jonge wetenschappers nadat zij hun eerste academische graad op het gebied van industriële metrologie of aanverwante gebieden hebben behaald, of door het toekennen van onderzoekscontracten, met inbegrip van doctoraalprojecten, aan getalenteerde jonge wetenschappers.

Het enige orgaan van de Stichting is de Raad van Bestuur. Zij bestaat uit vier honoraire trustees, waaruit de voorzitter van de Raad van Trustees wordt gekozen voor een termijn van 5 jaar en die samen met een ander lid de Stichting vertegenwoordigt in alle gerechtelijke en buitengerechtelijke zaken. De statutaire zetel en het adres van de Stichting is Siemensstr. 19 in 35394 Giessen.

Presentatie - Stichting ter nagedachtenis aan de baanbrekende ontwikkelingen en het levenswerk van Dr.-Ing. Siegfried Werth
 
Curriculum vitae

Ontwikkelaar van meettechnologie en ondernemer

Dr.-Ing. Siegfried Werth richtte een bedrijf voor apparaten- en machinebouw op, dat later Werth Messtechnik GmbH werd, en maakte de automatisering van optische metingen mogelijk met de ontwikkeling van de eerste optische sensor voor meetprojectoren.

Curriculum vitae - Ontwikkelaar van meettechnologie en ondernemer
1907

Geboren in Berlijn

1926

Abitur in Berlin

1931

Studie werktuigbouwkunde aan de Technische Hochschule Berlijn

1931-1936

Assistent aan de Technische Universiteit van Berlijn, bij het Instituut voor gereedschapswerktuigen en fabrieksbeheer

1937

Doctoraat aan de Technische Universiteit van Berlijn

1936-1937

Fabrieksingenieur bij BMW in Eisenach

1937-1939

Bedieningsassistent bij Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg (MAN) in Neurenberg

1939-1941

Fabrieksdirecteur van de MAN-fabriek in Augsburg en de motorenfabriek in Hamburg

1941

Handboek geschreven voor machine arbeiders

1948

Zelfstandig ingenieur in Düsseldorf

1951

Oprichting van de Werth Apparate- und Maschinenbaufirma in Düsseldorf, ontwerp en fabricage van meetinstrumenten voor de draadindustrie

1951

Tekenmatrijs meetapparaat Werth Panohol

1953

Profiel projector ontwikkeling

1955

Werth Record – ergonomische profielprojector met geïntegreerde beam path

1958

Nieuwe bedrijfslocatie in Giessen

1977

Werth Tastauge– Eerste glasvezelsensor voor meet- en profielprojectoren

1979

Wijziging van de naam in Dr.-Ing. Siegfried Werth GmbH

1980

Werth Optimus CC – eerste CNC-gestuurde meetprojector

1982

Overleden in Giessen

 
Nieuws

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs uitgereikt

Tijdens een ceremonie in het gebouw van Werth Messtechnik GmbH in Giessen in februari heeft de Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting een prijs toegekend aan een wetenschappelijk werk op het gebied van contactloze dimensionale metrologie. De prijswinnaar is de heer Patrick Steidl voor een uitstekende bachelorscriptie aan de Technische Universiteit van Midden-Hessen, die handelt over de ontwikkeling van nieuwe sensortechnologieën voor röntgencomputertomografie. Aangezien de Werth Technologiedagen, tijdens welke normaliter de prijsuitreiking plaatsvindt, in het voorjaar van 2021 wegens wettelijke voorschriften moesten worden afgelast, vond de prijsuitreiking op kleinere schaal plaats.

Nieuws - Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs uitgereikt
 
Prijswinnaars en ontvangers

Uitmuntend wetenschappelijk werk op het gebied van contactloze dimensionale metrologie

Overeenkomstig het doel van de stichting werden aan de volgende jonge wetenschappers prijzen toegekend door de Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting of werd hun wetenschappelijk werk ondersteund met beurzen:

Prijswinnaars en ontvangers - Uitmuntend wetenschappelijk werk op het gebied van contactloze dimensionale metrologie
1988

Dipl.-Ing. Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Integratie van beeldverwerking in profielprojectoren"

1990

Dr.-Ing. habil. Reimar Lenz, TU München

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Ontwikkeling van een CCD-camera met hoge resolutie en programmeerbare resolutie"

1991

Dr.-Ing. Thomas Sefker, Universiteit van GHS Essen

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Veralgemeende weergave van het gedrag van isotherme vrije jets"

1994

Dr.-Ing. Christian Troll/Dipl.-Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Transformatiemeetsystemen met evaluatie van barcodestructuren voor absolute pad- en hoekmeting"

1996

Dr.-Ing. Edgar Reiner Fischer, TU Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Dubbele heteroyn-interferometrie voor profiel- en afstandsmeting op optisch ruwe oppervlakken"

1998

Dr.-Ing. Dipl.-Fys. Ralph Peter Knorpp, Fraunhofer-Institut Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prijs
"Vormrichtlijnen voor reverse engineering Extractie van randen en radiusuitlooplijnen uit ongestructureerde 3D-meetpuntensets"

2000

Dr.-Ing. Horst Konstantin Mischo, Fraunhofer Instituut Aken

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"De virtuele interferometer – Modelgebaseerde optimalisatie"

2000

Professor Dr.-Ing. Thomas Luhmann, Universiteit voor Toegepaste Wetenschappen Odenburg

Speciale prijs
"Close-range photogrammetry"

2001

Dipl.-Ing. Simon Winkelbach, Technische Universiteit van Braunschweig

Dipl.-Ing. Marcus Jacob, Universiteit voor Toegepaste Wetenschappen Jena

Oliver Gächter/Roger Caviezel, Buchs Technisch College, Zwitserland

Speciale prijzen ter gelegenheid van het 50-jarig bestaan van Werth Messtechnik GmbH

2003

Dr. Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Pose Estimation Revisited"

2005

Dr.-Ing. Marcus Petz, Technische Universiteit van Braunschweig

Dr.-Ing. Siegfried Werth Prijs "Scanning Reflection Photogrammetry for the Measurement of Reflecting Surfaces"

2006

Dr.-Ing. Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart

Dr.-Ing. Siegfried Werth-prijs
"Adaptieve methoden voor de evaluatie van gestructureerde oppervlakken"

2008

Dipl.-Ing. Andreas Gläser, West-Saksische Hogeschool Zwickau

- Doctorale studiebeurs -

2010

Dipl.-Fys. Daniel Weigel, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs van de Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting voor uitmuntende master- of diplomascripties
"Resolutieverhoging in optische aftastmicroscopen met behulp van een beeldinverterende interferometer"

2011

Dr Marco Hornung, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs van de Dr.-Ing. Siegfried Werth Stichting voor voortreffelijke dissertaties
"Mosaic grating compressor for femtosecond laser pulses of high energy"

2012

Florian Flad, Friedrich-Alexander-Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor uitmuntend studentenonderzoeksproject
"Validatie van een simulatie van de meetonzekerheid voor röntgencomputertomografie"

2012

Jan-Hinrich Eggers, Technische Universiteit van Braunschweig

Prijs voor uitmuntend eindwerk
"Ontwikkeling van de belichtingsoptiek van een microstrip projectie-unit"

2012

Ekaterina Pshenay-Severin, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Ontwerp, realisatie en karakterisering van optische metamaterialen met negatieve brekingsindex"

2012

Martin Peterek, Rhenisch-Westfaalse Technische Universiteit Aken

Prijs voor uitmuntend doctoraalscriptie
"Mosaic grating compressor for femtosecond laser pulses of high energy"

2012

Dr.-Ing. Philipp Krämer, Friedrich-Alexander-Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Simulation-based estimation of the accuracy of measurements with X-ray computed tomography"

2013

Mevrouw Johanna Witte

Prijs voor bijzonder goede studentenonderzoeksprojecten
"Concept voor het meten van diepe blinde gatdiameters"

2013

Carl Alexander Schuler, Friedrich-Alexander-Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Uitbreiding van de toepassingsgrenzen van sensoren voor micro- en nanometrologie door dynamische sensor-tracking met behulp van nanometer-opgeloste elektrische nabij-veld-interactie"

2013

Jens Thomas, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Mode control with ultra-short pulse written fibre Bragg gratings"

2014

Nicolai-Andre Brill, Fraunhofer IPT, Aken

Prijs voor uitmuntende masterscriptie
"Ontwikkeling van een polarisatiegevoelig systeem voor optische coherentie tomografie (OCT) voor real-time metingen van halfdoorzichtige materialen"

2014

Marcus Große, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Investigations into correlation-based point assignment in stereophotogrammetric 3D object measurement using sequences of structured illumination"

2014

Julia Kroll, Fraunhofer-Instituut voor productietechniek en automatisering IPA, Stuttgart

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Taakaangepaste, gecontroleerde oppervlakte-extractie uit 3D-gegevens met computertomografie"

2014

Sebastian Pollmanns, leerstoel Productiemetrologie en Kwaliteitsbeheer Machinewerktuiglaboratorium WZL, RWTH Aachen

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Determination of uncertainty contributions in medical computed tomography measurements for image-based navigated surgery"

2015

Michael Zürch, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Hoge-resolutie Extreme Ultraviolet Microscopie"

2015

Mario Salzinger, Technische Universiteit van Deggendorf

Prijs voor bijzonder goede bachelorscripties
"Onderzoek naar de filtereigenschappen bij metingen met industriële computertomografie in vergelijking met tactiele meetsystemen"

2015

Lizhuo Chen, Friedrich Alexander Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Light Refractive Tomography for Noninvasive Ultrasound Measurements in Various Media

2015

Wito Hartmann, Friedrich-Alexander-Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Measurement and evaluation strategies for model-based assessment of functional properties of microstructured surfaces"

2016

Ruedi Jung, Friedrich-Alexander-Universiteit Erlangen-Neurenberg

Prijs voor uitmuntende masterscriptie
"Onderzoek naar het effect van verschillende beïnvloedende variabelen op dimensionale computertomografiemetingen"

2016

Angela Klein, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Scanning Near-Field Optical Microscopy: From Single-Tip to Dual-Tip Operation"

2017

Anton Sigl, Deggendorf Universiteit voor Toegepaste Wetenschappen

Prijs voor bijzonder goede bachelorscripties
"Ontwerp en bouw van een modulair CT-systeem voor micro- en sub-µ-toepassingen"

2017

Marc Fischer, Technische Universiteit van Braunschweig

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Deflectometry in Transmission – A new measurement method for detecting the geometry of aspherical refractive optics"

2017

Arno Klenke, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Performance Scaling of laser amplifiers via coherent combineren van ultrakorte pulsen"

2018

Stefan Heist, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"High-speed 3D shape measurement using aperiodic sinusoidal patterns"

2018

Robert Kuschmierz, Technische Universiteit Dresden

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Interferometrische lasersensoren voor driedimensionale, in-situ vormmeting van roterende lichamen"

2019

Sina Saravi, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Photon-pair generation in photonic crystal waveguides

2019

Joscha Maier, Duits centrum voor kankeronderzoek Heidelberg

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Artifact Correction and Real-Time Scatter Estimation for X-Ray Computed Tomography in Industrial Metrology"

2019

Klaus Bergner, Fraunhofer-Instituut voor Toegepaste Optica en Precisietechniek IOF Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Time- and spatially-resolved analysis of the interaction of intense ultrashort laser pulses with glasses"

2019

Henrik Sprankel, Technische Universiteit van Midden-Hessen

Prijs voor bijzonder goede bachelorscripties
"Onderzoek naar beïnvloedende variabelen op de afwijking van de lengtemeting bij coördinatenmeting met röntgencomputertomografie"

2020

Silvan Othmar Ammann en Gilson Orlando, Interstate Hogeschool Buchs (NTB)

Prijs voor bijzonder goede bachelorscripties
"Pattern Illumination for Lightfield Camera"

2020

Maximilian Heck, Fraunhofer-Instituut voor Toegepaste Optica en Precisietechniek IOF Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Tailored light propagation by femtosecond pulse written long period fibre gratings"

2020

Martin Heusinger, Friedrich Schiller Universiteit Jena (Faculteit Natuurkunde en Astronomie)

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Investigations on deterministic and stochastic scattered light in highly efficient binary diffraction gratings" (Onderzoeken naar deterministisch en stochastisch verstrooid licht in zeer efficiënte binaire diffractieroosters)

2020

Julian Wittmann, Deggendorf Universiteit voor Toegepaste Wetenschappen

Prijs voor uitmuntende masterscriptie
"Bepaling van een 3D-model van het inwendige volume van schoenen met behulp van computertomografiegegevens"

2021

Patrick Steidl, Technische Universiteit van Midden-Hessen

Prijs voor bijzonder goede bachelorscripties
"Bijdragen tot de ontwikkeling van een röntgendetector voor coördinatenmeetmachines met röntgencomputertomografie"

2021

Thomas Siefke, Friedrich Schiller Universiteit Jena

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Ontwikkeling van draadroosterpolarisatoren voor toepassingen in het ultraviolette tot vacuüm-ultraviolette spectraalgebied"

2021

Roy Seitz, OST Universiteit voor Toegepaste Wetenschappen van Oost-Zwitserland

Prijs voor uitmuntende Masterproef
"StereoVision: High-Speed Stream-Based Parallel Dense Disparity Map Calculation"

2022

Hannes Radner, Technische Universiteit Dresden

Prijs voor voortreffelijke dissertaties
"Adaptive optical wavefront correction using the Fresnel guide star and a hybrid control loop implemented on a field-programmable system-on-chip"

Neem contact op met
Selecteer een ander land of regio om inhoud in uw taal te zien.