使用 TomoScope® XS Plus、Werth 长寿命透射光源和 Werth 轮廓图像处理技术,只需几秒钟就能可靠地测量正负极电极绕组变形等几何特性。在生产过程中引入的金属颗粒可在几秒钟内自动识别,以防止短路,从而避免整个高压存储系统发生火灾。