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光学

通过光的非接触和快速信号传输

光学测量技术的优势在于非接触测量。这使得测量敏感工件以及具有小特征的工件成为可能。非接触式测量消除了耗时的夹持,这对小的或有弹性的工件来说是困难的。

Werth Image Processing BV
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自动对焦传感器
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Werth激光探针 WLP
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色谱聚焦点传感器 CFP
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色差对焦变焦 CFZ
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色度聚焦线传感器 CFL
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Werth 3D补丁
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纳米聚焦探针NFP
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Werth干涉仪探测器 WIP
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激光线探针LLP
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