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Medição rápida da espessura do revestimento com sensor cromático

Medição rápida da espessura do revestimento com sensor cromático

As espessuras de revestimentos que podem ser penetradas por luz desde a gama visível até à gama de infravermelhos podem ser medidas com o sensor Chromatic Focus Point, o sensor Chromatic Focus Line e o multisensor Chromatic Focus Zoom (cabeça de medição ótica patenteada com processamento de imagem integrado e sensor de distância cromática). Com os sensores de ponto CFP e CFZ, a espessura do revestimento pode ser medida especificamente em diferentes posições na peça de trabalho ou como uma varredura de contorno com uma alta densidade de pontos em toda a superfície da peça de trabalho. O varrimento linear do CFL resulta em vantagens de velocidade durante a medição, em comparação com o CFP e o CFZ. O volume entre as interfaces também pode ser calculado.
Com o princípio interferométrico, a gama de espessuras de revestimento mensuráveis situa-se entre 5 µm e 150 µm quando se utiliza luz visível e entre 30 µm e 10.500 µm quando se utiliza radiação infravermelha. Na medição cromática, para além das medições "in image" na gama de medição do sensor, ou seja, sem deslocar os eixos do aparelho, a gama de medição pode ser aumentada através de medições "on image" com o correspondente reajustamento dos eixos do aparelho. Os resultados da medição dependem do índice de refração dos materiais, pelo que este deve ser conhecido com muita precisão. Outra opção é calibrar diretamente a espessura do revestimento utilizando outros métodos metrológicos, tais como Werth Fiber Probe® ou tomografia computorizada.

As áreas de aplicação típicas para a medição da espessura de revestimentos são placas de vidro finas, películas, espaços de ar, espessuras de tinta, revestimentos protectores em componentes electrónicos, bolachas, membranas de altifalantes ou cateteres de balão.

 

Medição rápida da espessura do revestimento com sensor cromático

Medição cromática da espessura do revestimento com dois máximos de intensidade para a luz reflectida a partir da superfície limite superior (verde) e inferior (vermelha)

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