使用色度聚焦点传感器、色度聚焦线传感器和色度聚焦变焦多传感器（集成了图像处理和色度距离传感器的专利光学测量头），可以测量从可见光到红外光范围内可被光穿透的涂层厚度。利用 CFP 和 CFZ 点传感器，可以专门测量工件上不同位置的涂层厚度，也可以对整个工件表面进行高点密度的轮廓扫描。与 CFP 和 CFZ 相比，CFL 的线性扫描在测量过程中具有速度优势。还可以计算界面之间的体积。
利用干涉原理，使用可见光时可测量的涂层厚度范围为 5 µm 至 150 µm，使用红外辐射时可测量的涂层厚度范围为 30 µm 至 10,500 µm。色度测量时，除了在传感器的测量范围内进行 "像内 "测量（即不移动设备轴）外，还可以通过相应地重新调整设备轴进行 "像上 "测量，从而扩大测量范围。测量结果取决于材料的折射率，因此必须非常精确地了解材料的折射率。另一种方法是使用Werth Fiber Probe® 或计算机断层扫描等其他计量方法直接校准涂层厚度。
