Szybki pomiar grubości powłoki za pomocą czujnika chromatycznego

Grubość powłok, które mogą być penetrowane przez światło z zakresu od widzialnego do podczerwieni, może być mierzona za pomocą czujnika Chromatic Focus Point, czujnika Chromatic Focus Line i multisensora Chromatic Focus Zoom (opatentowana optyczna głowica pomiarowa ze zintegrowanym przetwarzaniem obrazu i chromatycznym czujnikiem odległości). Dzięki czujnikom punktowym CFP i CFZ grubość powłoki może być mierzona konkretnie w różnych pozycjach na przedmiocie obrabianym lub jako skan konturowy z dużą gęstością punktów na całej powierzchni przedmiotu obrabianego. Liniowe skanowanie CFL zapewnia większą szybkość pomiaru w porównaniu do CFP i CFZ. Można również obliczyć objętość między interfejsami.
Dzięki zasadzie interferometrycznej mierzalny zakres grubości powłoki wynosi od 5 µm do 150 µm przy użyciu światła widzialnego i od 30 µm do 10 500 µm przy użyciu promieniowania podczerwonego. W przypadku pomiarów chromatycznych, oprócz pomiarów "na obrazie" w zakresie pomiarowym czujnika, tj. bez przesuwania osi urządzenia, zakres pomiarowy można zwiększyć poprzez pomiary "na obrazie" z odpowiednią regulacją osi urządzenia. Wyniki pomiarów zależą od współczynnika załamania światła materiałów, więc należy go znać bardzo dokładnie. Inną opcją jest bezpośrednia kalibracja grubości powłoki przy użyciu innych metod metrologicznych, takich jak Werth Fiber Probe® lub tomografia komputerowa.

Typowe obszary zastosowań pomiarów grubości powłok to cienkie płyty szklane, folie, szczeliny powietrzne, grubości farb, powłoki ochronne na elementach elektronicznych, wafle, membrany głośników lub cewniki balonowe.