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配备光学、探头、计算机断层扫描和多传感器技术的三坐标测量机

校准和溯源符合 IATF 16949 标准

根据标准化标准制定的规范和经过认证的校准可对测量设备的性能进行客观比较,并确保测量结果的可追溯性。早在 2004 年,Werth Messtechnik 就获得了光学和多传感器三坐标测量机校准认证。2011 年,它成为首家、也是截至 2018 年唯一一家获得计算机断层扫描传感器三坐标测量机校准认证的机构。

20 世纪 90 年代末的第一版 ISO/TS 16949 标准(IATF 16949 的前身)对所使用测试设备的计量溯源性提出了新的要求。坐标测量机尤其适用于监控和校准这些测试设备。特别是在汽车行业,这导致了对三坐标测量机认可校准的需求。使用校准标准可以溯源至国际标准。2003 年,DKD 准则 DKD-R 4-3 Sheet 18.1 (DKD– Deutscher Kalibrierdienst) 发布,随后对触觉坐标测量机实验室进行了首次认证。2004 年,Werth Messtechnik 成为德国首家通过 DKD 认证的光学和多传感器坐标测量机校准实验室。在Werth Messtechnik 的大力协助下,VDI 2617 Sheet 6 中描述的光学探测坐标测量机程序得以开发。自此以后,
,该实验室持续活跃,上述程序也得到了进一步开发和扩展。2011 年,Werth-DAkkS 实验室(DAkkS – 德国认可机构)成为首家、也是截至 2018 年唯一一家根据 VDI/VDE 2617 第 13 张表校准带有计算机断层扫描传感器的三坐标测量机的认可机构。2019 年,作为重新认证的一部分,该机构转换为当前版本的 ISO 17025:2017。

校准和溯源符合 IATF 16949 标准

<p>根据米的定义,由国家计量机构或DAkkS 实验室校准不同的长度标准。这些标准用于校准设备。现在,该设备本身就是一个参考标准,可对工件进行溯源测量。</p>

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