了解更多

Werth干涉仪探测器 WIP

高精度非接触式距离传感器

优势

WIP是一种非接触式的光纤传感器，用于高精度测量几何形状和粗糙度。探头的几何形状可以根据探测工件表面所需的出口角度而单独调整。由于探头尺寸小，WIP特别适用于检测小的、难以接近的和深的几何形状，因此也是Werth在测量微观几何形状方面的特殊专长的一部分。

请在设置中接受 "其他"，以观看此视频。更多优势

在RS版本中，WIP允许使用可旋转的探头进行高精度的圆度测量。
通过在金属管中引导纤维，探针也可以提供非常长的长度，用于大的浸入深度
探头的斜面决定了测量光束的出口角度在0°和90°之间，90°角的探头可用于测量小孔的侧面。

技术数据

光学（短相干干涉测量法）

300 µm

允许的探测偏差达0,2 µm

用一个超级发光二极管a)和一个通过光纤耦合器b)连接的测量探头c)，测量在探头出口表面d)和工件表面e)反射的光的时间差信息。干涉仪（成像光学元件f）、分光镜g）、反射镜h）和i）以及圆柱形透镜j）从干涉仪（成像光学元件f）、分光镜g）、反射镜h）和i）以及圆柱形透镜j）将在探头出口表面d）和工件表面e）反射的光的移动时间差的信息投射到线扫描相机k），并由此确定距离。