容器的壁厚是包装行业（例如瓶子）的一个重要参数。它决定了包装是否具有所需的强度，或者是否使用了过多的材料，这可能会给大众市场带来可观的成本。了解如何在WinWerth® 中使用自动壁厚测量以及如何分析测量结果。
容器的壁厚是包装行业（例如瓶子）的一个重要参数。它决定了包装是否具有所需的强度，或者是否使用了过多的材料，这可能会给大众市场带来可观的成本。了解如何在WinWerth® 中使用自动壁厚测量以及如何分析测量结果。
X 射线断层扫描利用了 X 射线穿透物体的能力。数学方法可用于从不同旋转位置的 X 射线图像中计算出体积模型，从而全面描述工件的几何形状和材料分布。对于塑料等易于穿透的材料，这种测量方法正日益成为制造商提高竞争力的先决条件。其中一个先决条件就是开发出基于低成本、低维护 X 射线源的 Werth TomoScope® XS 系列产品。
