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新版WinWerth® 9.45

新版WinWerth® 9.45

测量软件WinWerth® 的 9.45 版提供了许多新功能和改进功能,例如螺旋断层扫描,可提高精度,将 0.5 µm 范围内的测量偏差降至最低。利用多光谱断层扫描技术,可以对难以辐射穿透的工件和组件进行高分辨率、低误差、高质量的测量。新的WinWerth® Viewer 可以自动处理现有项目,进行额外的手动评估,并通过WinWerth® 熟悉的一系列功能输出测量报告。

测量软件中增加了各种智能功能。即使在使用图像处理传感器进行测量时,现在也可以自动分离在一张图像中测量的多个工件的轮廓。另一项新功能是对记录的三维测量数据进行后续过滤,同时考虑到传感器系统的过程参数,例如在使用多点传感器时,可显著减少探测偏差。通过WinWerth® 用户管理功能,即使在自动启动测量程序时,也可以将用户权限限制在选择工件上。测量完成后,设备会自动注销登录用户,从而再次保存测量结果。通过与 Windows 用户账户的链接,可以直接通过 Windows ActiveDirectory 管理单个用户。为了改善概览效果,三维图形中只显示插入点上方的元素。图形现在可以直接保存在 Office 日志中。

 

新版WinWerth® 9.45

可在WinWerth® 9.45 中设置不同的公差带和单独的色标

现代化的WinWerth® 9.45 用户界面线条清晰,对话框统一简化,使用更加方便。对于不同公差的模具偏差,用户现在可以在较大范围内设置偏差显示类型。系统偏差和随机偏差的大小可通过颜色分布图轻松评估。

计算机断层扫描领域的功能范围也得到了扩展。用于提高测量速度的 OnTheFly CT(已申请专利)现在可用于所有特殊测量方法,例如已获专利的 Multi-ROI CT。在使用 TomoSim 进行离线编程时,模拟容积的质量在分辨率、伪影和许多其他属性方面都与后续测量一致。模拟强度图像可用于优化管道性能和工件在探测器上的位置。

新版WinWerth® 9.45

现在,OnTheFly CT(已申请专利)还能提高特殊测量方法的测量速度,例如已获专利的多 ROI 层析成像技术。

WinWerth® 新版本增加了各种计算元素。在测量软件中进行选择后,可全自动对尺寸等几何属性进行标准化评估。平行平面之间的距离和平面之间的开角也可以根据新标准进行确定。另一项新功能可以确定两个轮廓之间的对称轮廓。可以根据任意点云计算出直径最小的包围球。

多种状态显示为用户提供信息。例如,设备状态可通过 OPC UA 协议传输到生产控制中心。在用户界面上可以读取 X 射线管的绝对光束时间和靶材的磨损状态,从而避免停机。

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