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Werth Contour Probe WCP

触觉-光学轮廓传感器

优势

灵活测量粗糙度、波浪度和轮廓线

以前保留给接触部分设备的任务,可以由多传感器坐标测量机上的Werth Contour Probe 来解决。触觉-光学测针传感器首次实现了在确定的工件坐标中进行触觉轮廓测量。与传统的测针仪器相比,WCP的特殊导向系统允许在任何切割中进行扫描,没有首选方向。

进一步的优势

进一步的优势

  • 在不重新装夹工件的情况下,粗糙度也可以在CNC控制下进行测量,并且可以在工件坐标系中扫描出轮廓线。
  • 在测量软件WinWerth® 中集成的粗糙度库的帮助下,可以计算出符合标准的粗糙度值。
  • 传感器可以通过一个更换站由CNC控制更换
技术数据
技术数据

传感器原理

触觉-光学

准确度

允许的探测偏差达2 µm

它是如何工作的

通过触觉-光学轮廓传感器,激光距离传感器a)(b)磁性接口,c)镜子,d)轴承)用于测量测针e)的偏移,同时扫描工件表面f)。

它是如何工作的
兼容的传感器原理
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设备和配件
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应用

工件实例 Werth Contour Probe WCP

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