Tomografia elementów o wysokim współczynniku kształtu

Aby uzyskać wysoką rozdzielczość, odległość między przedmiotem obrabianym a lampą rentgenowską musi być bardzo mała. Jeśli tomografowane mają być duże, płaskie elementy, takie jak płytki obwodów drukowanych, to ze względu na duży współczynnik kształtu, obracany w celu uzyskania obrazów radiograficznych element zderzyłby się ze źródłem promieniowania rentgenowskiego. Laminografia wahadłowa i planarna oferują rozwiązanie, w którym zakres kątowy do przechwytywania obrazów radiograficznych jest znacznie ograniczony lub tylko przesuwany planarnie.
W laminografii wahadłowej obrabiany przedmiot jest obracany tylko w pewnym zakresie kątowym, np. ±20 stopni. W przypadku laminografii planarnej przedmiot obrabiany jest przesuwany przez wiązkę promieniowania rentgenowskiego, a detektor i lampa rentgenowska poruszają się w przeciwnych kierunkach. Ze względu na stożkowy kształt promieniowania rentgenowskiego zmienia się kąt transmisji. Ten wirtualny obrót przedmiotu obrabianego dostarcza wystarczających informacji do zrekonstruowania jego objętości. Rozdzielczość boczna w różnych płaszczyznach pomiarowych jest bardzo wysoka, określona przez wybrane powiększenie. Rozdzielczość osiowa jest niższa, co zwykle nie stanowi problemu w zastosowaniach 2D.
Laminografia jest wykorzystywana na przykład do analizy i pomiaru płytek drukowanych i zespołów elektronicznych, analizy próbek archeologicznych, pomiarów 2D dużych arkuszy lub płaskich części z tworzyw sztucznych oraz do pomiaru płyt bipolarnych.